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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种基于光束对射相消的检测光抽运效应抑制方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115629345B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210664643.0，技术领域涉及：G01R33/20；该发明授权一种基于光束对射相消的检测光抽运效应抑制方法是由范文峰;魏瑶;李任杰;全伟设计研发完成，并于2022-06-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光束对射相消的检测光抽运效应抑制方法在说明书摘要公布了：一种基于光束对射相消的检测光抽运效应抑制方法，以SERF无自旋交换弛豫惯性测量系统为研究对象，将检测光稳光强后残留的误差定位至检测光的非理想线偏振上，通过最新提出的检测光抽运效应的测量方法，提出了一种基于光路对射相消的抑制检测光抽运效应的方法，调整部分出射的检测光，再次注入气室中，从而抵消正向的检测光抽运效应。通过选择合适透射率的高透低反镜片及调整18波片的角度，能够在不改变原子自旋惯性测量装置主要工作点条件、且基本不降低刻度系数的情况下抑制由非理想线偏振引起的检测光抽运效应，对系统稳定性的提升具有重要意义。

本发明授权一种基于光束对射相消的检测光抽运效应抑制方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光束对射相消的检测光抽运效应抑制方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1，将SERF惯性测量系统碱金属气室加热到工作温度，待激光将原子极化到稳态时，采用磁场交叉调制补偿技术补偿磁场，此时惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”，测试记录惯性测量系统稳态偏置信号Vout，转动惯性测量系统获得自旋惯性测量装置的刻度系数K； 步骤2，用减慢因子法得到电子极化率用阶跃调制实验：不断改变Z轴线圈的电压以改变Z轴磁场Bz，获得系统输出值，并进行拟合，获得惯性测量系统的Z轴光频移Lz，电子弛豫率X轴光频移Lx，利用上述各项参数得到Rmsm项，此处Rm为检测光抽运效应，sm为检测光圆偏振度，改变检测光功率I0重复实验，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b，b为常量，KI为斜率； 步骤3，在从碱金属气室出射后的检测光路上设置由18波片和高透低反镜片构成的抑制装置，通过改变18波片角度，重复步骤1至步骤2的操作，获得新的线性关系； 步骤4，通过比较18波片不同角度下线性关系斜率KI的大小判断此处检测光抽运效应的抑制效果； 步骤5，最终得到几乎使得KI＝0的18波片角度值，使惯性测量系统工作在“检测光抽运效应零点”的波片角度，此时惯性测量系统稳态输出受检测光抽运效应的干扰很小； 步骤2中利用上述各项参数得到Rmsm项的表达式如下： 其中，为电子极化率，γe为电子的旋磁比，Vout为系统的偏置信号输出，δBz为Z轴磁场的变化量，Bn是核自旋产生的磁场，Lx为沿X轴的光频移，Lz为沿Z轴的光频移，是电子弛豫率，Bc是环境剩磁。

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