欧姆龙株式会社奥田贵启获国家专利权
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龙图腾网获悉欧姆龙株式会社申请的专利光学测量装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113390334B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110147297.4,技术领域涉及:G01B11/00;该发明授权光学测量装置是由奥田贵启;高嶋润;谷沢元春设计研发完成,并于2021-02-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学测量装置在说明书摘要公布了:本发明不会加大景深而能够降低粗糙面的测量误差。光学测量装置包括:光源,输出多个波长的光;第一狭缝构件,形成有使来自光源的光的一部分通过的第一开口;光学系统,用于使通过了第一开口的光沿光轴产生色差;物镜,将产生了色差的光照射至测量对象物;第二狭缝构件,形成有使照射至测量对象物的光的反射光的一部分通过的第二开口;受光用光纤,对通过了第二开口的光进行传播;以及受光传感器,获取经传播的光,对所述光的光谱进行测量,第一开口及第二开口分别具有包含多个针孔的形状。
本发明授权光学测量装置在权利要求书中公布了:1.一种光学测量装置,包括: 光源,输出多个波长的光; 第一限制构件,形成有使来自所述光源的光的一部分通过的第一开口; 光学系统,用于使通过了所述第一开口的光沿着光轴产生色差; 物镜,将产生了色差的所述光照射至测量对象物; 第二限制构件,形成有使照射至所述测量对象物的光的反射光的一部分通过的第二开口; 光纤,对通过了所述第二开口的光进行传播;以及 受光传感器,获取所述传播的光,对所述光的光谱进行测量, 所述第一开口及所述第二开口分别具有包含多个针孔的形状,所述光纤是配置成通过所述第二开口的光入射到所述光纤的一端的端面。
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