深圳一森科技有限公司涂星获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳一森科技有限公司申请的专利一种光学测距电位模块及其应用的光学电位器获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223427047U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423126265.4，技术领域涉及：G05D3/12；该实用新型一种光学测距电位模块及其应用的光学电位器是由涂星设计研发完成，并于2024-12-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光学测距电位模块及其应用的光学电位器在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种光学测距电位模块及其应用的光学电位器，包括罩壳，所述罩壳内侧设有凹槽，凹槽中心点上设有一凸轮，凸轮一侧的凹槽内设有测距模块和能够在凹槽中平移的第一磁吸元件，第一磁吸元件设有反射面，测距模块固定于凹槽侧壁上，测距模块的工作面朝向第一磁吸元件的反射面；所述凸轮另一侧的凹槽内安装有能够与第一磁吸元件相吸的第二磁吸元件，在第二磁吸元件的作用下，第一磁吸元件能够保持与凸轮相接触。所述光学电位器包括电位器主体，以及所述光学测距电位模块。本实用新型与现有技术相比的优点是：本实用新型通过能够设置垂直于测距光线的平移反射面，提升了测距模块的测量精度和稳定性。同时，还具备调节阻尼大小的功能。
本实用新型一种光学测距电位模块及其应用的光学电位器在权利要求书中公布了：1.一种光学测距电位模块，包括罩壳，其特征在于：所述罩壳内侧设有凹槽，凹槽中心点上设有一凸轮，凸轮一侧的凹槽内设有测距模块和能够在凹槽中平移的第一磁吸元件，第一磁吸元件设有反射面，测距模块固定于凹槽侧壁上，测距模块的工作面朝向第一磁吸元件的反射面，测距模块工作面发出的光线与反射面相垂直；所述凸轮另一侧的凹槽内安装有能够与第一磁吸元件相吸的第二磁吸元件，在第二磁吸元件的作用下，第一磁吸元件能够保持与凸轮相接触。
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