杭州长川科技股份有限公司李康海获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州长川科技股份有限公司申请的专利芯片老化测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223426805U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422621869.X，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型芯片老化测试设备是由李康海;陈庆辉;黄炜胜;柴鹏辉;范王蒙设计研发完成，并于2024-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片老化测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型属于芯片测试技术领域，公开了芯片老化测试设备，包括中控机以及为中控机供电的电源，芯片老化测试设备还包括基座和测试部件，测试部件可拆卸连接于基座，测试部件至少包括一个测试模块，基座内设有容置腔，容置腔用于容置电源和中控机，测试模块包括测试框架、老化单板和测试单板，老化单板和测试单板可拆卸地安装于测试框架，老化单板和测试单板之间电连接，且测试单板电连接于中控机。本实用新型的芯片老化测试设备能够在减少开关机操作的前提下对故障老化单板进行替换或者满足单个测试芯片的定制测试需求，降低测试成本、避免资源浪费。
本实用新型芯片老化测试设备在权利要求书中公布了：1.芯片老化测试设备，包括中控机1以及为所述中控机1供电的电源，其特征在于，所述芯片老化测试设备还包括基座2和测试部件，所述测试部件可拆卸连接于所述基座2，所述测试部件至少包括一个测试模块3，所述基座2内设有容置腔，所述容置腔用于容置所述电源和所述中控机1，所述测试模块3包括测试框架31、老化单板32和测试单板33，所述老化单板32和所述测试单板33可拆卸地安装于所述测试框架31，所述老化单板32和所述测试单板33之间电连接，且所述测试单板33电连接于所述中控机1。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人杭州长川科技股份有限公司，其通讯地址为：310056 浙江省杭州市滨江区聚才路410号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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