北京理工大学崔嵬获国家专利权
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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120577757B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511072576.3,技术领域涉及:G01S3/48;该发明授权一种基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法及装置是由崔嵬;王一飞;吴爽;楚照耀;杨义凯;梅子鹏;周游设计研发完成,并于2025-08-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法及装置在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法及装置,属于雷达测量技术领域。该方法具体过程为:L阵构建:利用3个天线阵元稀布为阵元间距为的L阵,所述大于接收信号半波长;二维角度测量:利用所构建L阵接收载波频率为和的回波信号,通过双频相位差构建虚拟基线并解相位差模糊,分别得到俯仰和方位方向的高精度无模糊测角结果。
本发明授权一种基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法,其特征在于,具体过程为: L阵构建:利用3个天线阵元稀布为阵元间距为的L阵,所述大于接收信号半波长;设3个天线阵元分别为:天线阵元a、b、c,其中天线阵元a位于L阵直角顶点上,天线阵元b和天线阵元c分别位于L阵的两个垂直臂上,且距天线阵元a均为; 二维角度测量:利用所构建L阵接收载波频率为和的回波信号,通过双频相位差构建虚拟基线并解相位差模糊,分别得到俯仰和方位方向的高精度无模糊测角结果; 所述二维角度测量的具体过程为: 步骤1:提取天线阵元a、b在频率下接收信号的相位,并计算天线阵元a、b在频率下接收信号的相位差; 步骤2:利用相位差,计算虚拟基线对应的无模糊相位差; 步骤3:计算频率下相位整周模糊值: 其中,,为主值区间在的相位差测量值,表示的相位误差; 表示四舍五入; 则频率下无模糊相位差为: 步骤4:计算水平入射角估计结果: 步骤5:提取天线阵元a、c在频率下接收信号的相位差,按照步骤1至步骤4,得到垂直入射角估计结果; 步骤6:计算俯仰角估计结果和方位角估计结果,从而实现二维高精度测角; 。 2.根据权利要求1所述基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法,其特征在于,设,对于任意频率,所述阵元间距还需满足下式: 其中,为光速,表示方差。 3.根据权利要求2所述基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角方法,其特征在于,对于任意的载波频率,所述需满足如下条件: 。 4.一种基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角装置,其特征在于,包括:L阵以及二维角度测量模块; 所述L阵包括3个天线阵元,所述3个天线阵元稀布为阵元间距为的L型,所述大于接收信号半波长;设3个天线阵元分别为:天线阵元a、b、c,其中天线阵元a位于L型直角顶点上,天线阵元b和天线阵元c分别位于L型的两个垂直臂上,且距天线阵元a均为; 二维角度测量模块,利用L阵接收载波频率为和的回波信号,通过双频相位差构建虚拟基线并解相位差模糊,分别得到俯仰和方位方向的高精度无模糊测角结果; 二维角度测量模块的具体测角过程为: 步骤1:提取天线阵元a、b在频率下接收信号的相位,并计算天线阵元a、b在频率下接收信号的相位差; 步骤2:利用相位差,计算虚拟基线对应的无模糊相位差; 步骤3:计算频率下相位整周模糊值: 其中,,为主值区间在的相位差测量值,表示的相位误差; 表示四舍五入; 则频率下无模糊相位差为: 步骤4:计算水平入射角估计结果: 步骤5:提取天线阵元a、c在频率下接收信号的相位差,按照步骤1至步骤4,得到垂直入射角估计结果; 步骤6:计算俯仰角估计结果和方位角估计结果,从而实现二维高精度测角; 。 5.根据权利要求4所述基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角装置,其特征在于,设,对于任意频率,所述阵元间距还需满足下式: 其中,为光速,表示方差。 6.根据权利要求5所述基于最小规模稀布L阵的二维高精度测角装置,其特征在于,对于任意的载波频率,所述需满足如下条件: 。
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