成都泓睿科技有限责任公司李聪获国家专利权
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龙图腾网获悉成都泓睿科技有限责任公司申请的专利缺陷检测方法及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120525884B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511021175.5,技术领域涉及:G06F16/50;该发明授权缺陷检测方法及存储介质是由李聪;李勃志;任秦;赵小波设计研发完成,并于2025-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本缺陷检测方法及存储介质在说明书摘要公布了:本申请涉及一种缺陷检测方法及存储介质。本申请首先获取目标物的多时序图像,对多时序图像进行缺陷检测,得到目标物的第一候选缺陷类型。然后,从预先设置的多个检测模式中选择与第一候选缺陷类型匹配的目标检测模式对第一候选缺陷类型进行校验。最后,将通过校验的第一候选缺陷类型确定为目标物的第一缺陷类型。如此,可以针对不同目标物和不同的生产场景进行定制化训练,满足复杂场景的需求,提高了对目标物进行缺陷检测的准确性和适应性。
本发明授权缺陷检测方法及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括: 获取目标物的多时序图像; 对所述多时序图像进行缺陷检测,得到所述目标物的第一候选缺陷类型; 从预先设置的多个检测模式中选择与所述第一候选缺陷类型匹配的目标检测模式对所述第一候选缺陷类型进行校验,所述多个检测模式包括动态检测模式和静态检测模式,所述动态检测模式适用于缺陷特征随时间变化的运动场景,所述静态检测模式适用于所述缺陷特征稳定的场景; 将通过校验的所述第一候选缺陷类型确定为所述目标物的第一缺陷类型。
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