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龙图腾网获悉天津大学;北京是卓科技有限公司申请的专利基于粒径谱的颗粒分析方法、装置、存储介质和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119827361B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411695091.5，技术领域涉及：G01N15/0205；该发明授权基于粒径谱的颗粒分析方法、装置、存储介质和电子设备是由张志伟;张宇;张景秀设计研发完成，并于2024-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于粒径谱的颗粒分析方法、装置、存储介质和电子设备在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于粒径谱的颗粒分析方法、装置、存储介质和电子设备，包括：光束生成整形单元、光源监测单元、杂散光过滤单元、隔离单元、样品室、APD、PMT及运算单元，其中，光束生成整形单元激发准直光线，分光后得到输出至光源监测单元进行检测的激光光束及输出至杂散光过滤单元的激光光束；杂散光过滤单元形成等间距的平行光束，通过隔离单元输出至样品室内；样品室在被测样本下落至光线焦点处时，将侧向的漫反射光束输入至APD进行检测，将前向的漫反射光束输入至PMT进行检测；运算单元接收光源监测单元、APD及PMT的检测信息，进行相干运算；依据相干运算后信息的信噪比，确定进行颗粒分析的信息。可以提升分析效率。

本发明授权基于粒径谱的颗粒分析方法、装置、存储介质和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种基于粒径谱的颗粒分析装置，其特征在于，包括：光束生成整形单元、光源监测单元、杂散光过滤单元、隔离单元、样品室、雪崩光电二极管探测器、光电倍增管探测器及运算单元，其中，光束生成整形单元，用于激发准直光线的第一线偏振光，将第一线偏振光的偏振态调整为水平分量能量与垂直分量能量相同的第二线偏振光，对第二线偏振光进行扩束后，按照预先设置的分光比例进行分光，得到第一激光光束及第二激光光束，将第一激光光束输出至光源监测单元，将第二激光光束进行汇聚后形成汇聚光束输出至杂散光过滤单元，其中，第一激光光束的激光能量小于第二激光光束的激光能量； 光源监测单元，用于检测第一激光光束的第一光强信息，经变换后得到第一电压信息，输出至运算单元； 杂散光过滤单元，用于对汇聚光束进行分光，以在样品室内的光线焦点处形成Y轴等间距的两条沿X轴的平行光束，对平行光束进行杂散光滤除，将滤除杂散光的平行光束通过隔离单元输出至样品室内； 样品室，用于输入被测样本，在被测样本下落至两条平行光束的光线焦点处时，经过两条平行光束的照射，与被测样本中包含的颗粒物发生漫反射，对侧向的漫反射光束进行汇聚后，输入至雪崩光电二极管探测器，对前向的漫反射光束进行汇聚后，输入至光电倍增管探测器； 雪崩光电二极管探测器，用于检测侧向的漫反射光束的第二光强信息，经变换后得到第二电压信息，输出至运算单元； 光电倍增管探测器，用于检测前向的漫反射光束的第三光强信息，经变换后得到第三电压信息，输出至运算单元； 运算单元，用于接收第一光强信息、第二光强信息及第三光强信息，依据预先设置的相干算法，分别对第一光强信息与第二光强信息进行相干运算，利用下式计算最优APD系数： ；得到APD探测有效信息，式中，为APD系数，为光散APD测量值，为光源APD测量值，以及，对第一光强信息与第三光强信息进行相干运算，利用下式计算最优PMT系数：，得到PMT探测有效信息；式中，为PMT系数，为光散PMT测量值； 依据APD探测有效信息的信噪比，确定利用APD探测有效信息或PMT探测有效信息进行颗粒分析，若APD探测有效信息的信噪比大于或等于第一信噪比阈值且APD探测有效信息饱和，则采用APD饱和区域中值时间差法检测，所述颗粒分析包括：粒径尺寸分布对应粒径尺寸的颗粒浓度。

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