拓荆创益(沈阳)半导体设备有限公司孙鸿智获国家专利权
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龙图腾网获悉拓荆创益(沈阳)半导体设备有限公司申请的专利一种用于沉积工艺上喷嘴结构、沉积设备和清洁方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118756114B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202311791600.X,技术领域涉及:C23C16/455;该发明授权一种用于沉积工艺上喷嘴结构、沉积设备和清洁方法是由孙鸿智;杨晓楠设计研发完成,并于2023-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于沉积工艺上喷嘴结构、沉积设备和清洁方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于沉积工艺的上喷嘴结构、沉积设备和清洁方法。上喷嘴结构包括:上喷嘴本体,设置于反应腔的上盖板中,上喷嘴本体的第一端与上盖板之间存在间隙,用以向下通入清洁气体;以及导气组件,设置于上喷嘴本体的内部,包括第一主通道和至少一组支路通道,第一主通道的第一端连接上盖板的外部,以获取保护气体,第一主通道的第二端连接第一组支路通道的输入端,第一组支路通道的输出端位于上喷嘴本体的上表面,用以在清洁气体通入之前,先通入保护气体,使得保护气体覆盖上喷嘴本体的上表面,用以隔绝上表面和清洁气体。本发明能够隔绝清洁气体与上喷嘴的上表面接触,从而能够避免上喷嘴被清洁气体中的氟离子腐蚀损伤。
本发明授权一种用于沉积工艺上喷嘴结构、沉积设备和清洁方法在权利要求书中公布了:1.一种用于沉积工艺的上喷嘴结构,其特征在于,包括: 上喷嘴本体,设置于反应腔的上盖板中,其中,所述上喷嘴本体的第一端与所述上盖板之间存在间隙,用以向下通入清洁气体;以及导气组件,设置于所述上喷嘴本体的内部,包括第一主通道和至少一组支路通道,所述第一主通道的第一端连接所述上盖板的外部,以获取保护气体,所述第一主通道的第二端连接第一组支路通道的输入端,所述第一组支路通道的输出端位于所述上喷嘴本体的上表面,用以在所述清洁气体通入之前,先通入所述保护气体,使得所述保护气体覆盖所述上喷嘴本体的上表面,用以隔绝所述上表面和所述清洁气体。
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