吉林大学随阳轶获国家专利权
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龙图腾网获悉吉林大学申请的专利一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116299083B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211566788.3，技术领域涉及：G01R33/022；该发明授权一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法是由随阳轶;王瑞健;嵇艳鞠设计研发完成，并于2022-12-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法，包括确定二度体走向；在垂直二度体的平面上建立复平面，确定实轴和虚轴；在复平面上确定分数阶导数的起点与终点；定位板位于复平面上，测线圆绘制在定位板上，其过坐标系原点，圆心位于实轴上，通门插槽均匀分布于测线圆上，用于放置磁通门传感器；测线圆上取奇数个采样位置，测量采样位置上沿轴方向的两个磁场分量，构造复数向量；构造系数矩阵；以复数向量作为常数项，求解方程组，取出分数阶导数。本发明基于分数阶泰勒展，融合了磁场无源、无旋的性质，能用少量测点测得二度体的分数阶梯度，并取得和传统方法接近的精度；应用本发明测量方法可快速获得二度体在指定路径上的分数阶梯度。
本发明授权一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法在权利要求书中公布了：1.一种二度体磁场的分数阶梯度测量方法，其特征在于，包括以下步骤： A、确定二度体走向； B、建立复平面； C、在复平面上确定分数阶导数的起点与终点； D、确定测线圆； E、测线圆上取奇数个采样位置，测量采样位置上沿轴方向的两个磁场分量，构造复数向量； F、构造系数矩阵； G、以复数向量作为常数项，求解方程组，取出分数阶导数。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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