长鑫存储技术有限公司刘建斌获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种测试装置和测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115171770B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210688752.6，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种测试装置和测试方法是由刘建斌;马茂松设计研发完成，并于2022-06-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试装置和测试方法在说明书摘要公布了：本公开实施例提供了一种测试装置和测试方法，该测试装置包括主机板和控制模块，控制模块集成于主机板上；其中，主机板，包括连接件，用于通过连接件安装待测试芯片；控制模块，用于调整待测试芯片的刷新间隔；并在不同的刷新间隔下，通过不同的测试数据对待测试芯片进行读写测试，得到所有测试数据各自对应的数据保留时间；其中，所有测试数据各自对应的数据保留时间的最小值为待测试芯片的数据保留时间。这样，本公开实施例提供了一种结构简单的测试装置，能够便捷的进行数据保留时间的测试，成本低廉且易于批量部署。
本发明授权一种测试装置和测试方法在权利要求书中公布了：1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括主机板和控制模块，所述控制模块集成于所述主机板上；其中，所述主机板，包括连接件，用于通过所述连接件安装待测试芯片； 所述控制模块，用于调整所述待测试芯片的刷新间隔，在向所述待测试芯片写入测试数据之后，在不同的刷新间隔下进行读取测试，以获得所述测试数据对应的数据保留时间； 在遍历所有类型的测试数据后，确定所述待测试芯片的数据保留时间； 其中，所有测试数据各自对应的数据保留时间的最小值为所述待测试芯片的数据保留时间。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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