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龙图腾网获悉武汉TCL集团工业研究院有限公司申请的专利一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114723649B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011518647.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备是由李培鹏;李秀阳;汪浩;刘阳兴设计研发完成，并于2020-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备在说明书摘要公布了：本申请公开了一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备，所述方法包括：根据待检测的面板图像中的缺陷区域的缺陷位置信息以及待检测的述面板图像，确定若干候选面板图像；根据所述若干候选面板图像，确定所述面板图像对应的缺陷类别。本申请在获取到缺陷区域的缺陷位置信息后，根据所述缺陷位置信息在所述面板图像中选取若干候选面板图，并根据选取到的若干候选面板图像确定所述面板图像的缺陷类别，这样可以增加获取到的面板图像的特征信息，从而提高缺陷类别的准确性。

本发明授权一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备在权利要求书中公布了：1.一种面板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括： 根据待检测的面板图像中的缺陷区域的缺陷位置信息及待检测的面板图像，确定若干候选面板图像； 根据所述若干候选面板图像，确定所述面板图像对应的缺陷类别； 所述根据所述若干候选面板图像，确定所述面板图像对应的缺陷类别具体包括： 根据所述若干候选面板图像，确定目标面板图像； 将所述目标面板图像输入经过训练的缺陷分类模型，通过所述缺陷分类模型确定所述面板图像对应的缺陷类别； 所述缺陷分类模型基于预设训练样本集训练得到的，其中，所述预设训练样本集的确定过程具体包括： 获取若干面板图像； 对于若干面板图像中的每个面板图像，确定该面板图像中的缺陷区域的缺陷位置信息； 根据所述缺陷位置信息在所述面板图像中选取若干参照面板图像，其中，若干参照面板图像均包括所述缺陷区域中的一部分或者全部区域； 在若干参照面板图像中选取指定面板图像； 按照预设角度旋转所述指定面板图像，并根据旋转得到的指定面板图像以及若干参照面板图像中除指定面板图像外的参照面板图像确定参照面板图像组； 将生成的所有参照面板图像组作为所述预设训练样本集。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉TCL集团工业研究院有限公司，其通讯地址为：430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号未来科技大厦8层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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