深圳市战峰科技有限公司张亚伟获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市战峰科技有限公司申请的专利一种LPDDR芯片测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223401005U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422616489.7，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种LPDDR芯片测试装置是由张亚伟;李婷婷设计研发完成，并于2024-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种LPDDR芯片测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种LPDDR芯片测试装置，本实用新型涉及LPDDR芯片测试技术领域，包括测试设备主体，所述测试设备主体的正面上方内嵌有显示屏，测试设备主体的正面下方开设有测试空腔，测试设备主体的正面下方内嵌有与测试空腔相连通的透明玻璃板，测试空腔的内壁顶面设置有测试头，测试头的底部设置有两组左右对称的测试探针，测试设备主体的两侧均开设有与测试空腔相连通的通槽，测试设备主体位于通槽下方的两侧均固接有横板，测试空腔内设置有位于测试探针下方的输送带，本实用新型的优点在于：本实用新型通过设置了贯穿测试空腔的输送带来对LPDDR芯片进行输送，使得测试的过程中，不会有大量的灰尘进入到测试空腔内，提高了测试数据的准确性。
本实用新型一种LPDDR芯片测试装置在权利要求书中公布了：1.一种LPDDR芯片测试装置，包括测试设备主体1，其特征在于：所述测试设备主体1的正面上方内嵌有显示屏2，测试设备主体1的正面下方开设有测试空腔3，测试设备主体1的正面下方内嵌有与测试空腔3相连通的透明玻璃板5，测试空腔3的内壁顶面设置有测试头4，测试头4的底部设置有两组左右对称的测试探针21，测试设备主体1的两侧均开设有与测试空腔3相连通的通槽6，测试设备主体1位于通槽6下方的两侧均固接有横板7，测试空腔3内设置有位于测试探针21下方的输送带8，输送带8的两端分别穿过两个通槽6并分别安装在两个横板7的顶面上，输送带8的顶面固接有用于盛放LPDDR芯片的放置框10，放置框10内设置有对LPDDR芯片进行固定的夹持结构，放置框10通过输送带8能够从测试设备主体1外部先移动至测试空腔3内，之后再从测试空腔3内移出。
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