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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种基于扫频涡流的涂覆层厚度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116678305B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310741533.4，技术领域涉及：G01B7/06；该发明授权一种基于扫频涡流的涂覆层厚度测量方法是由周权;陈洁瑶;钟卓文;张杰;田露露;陈聪;白利兵设计研发完成，并于2023-06-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于扫频涡流的涂覆层厚度测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于扫频涡流的涂覆层厚度测量方法，先制作不同标准厚度的多个塑料片替代非导电涂覆层，再将塑料片依次放置在金属基体上，然后基于扫频涡流厚度检测平台采集特定频段内足够多的电涡流数据，通过matlab对电涡流数据拟合，得到涂覆层厚度与阻抗虚部变化量最小值关系式，最后在涂覆层厚度实际测量时，只需检测平台测量出被测试件的电涡流数据，从而计算出阻抗虚部变化量最小值，通过关系式换算出涂覆层厚度。

本发明授权一种基于扫频涡流的涂覆层厚度测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于扫频涡流的涂覆层厚度测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 1、制作金属基体；制作不同标准厚度d1,d2,…,dn，的n个塑料片替代非导电涂覆层； 2、将不同标准厚度的塑料片依次放置在金属基体上，再将金属基体放置于水平桌面上； 3、将电涡流探头前端的电涡流线圈与塑料片垂直贴合； 4、设置信号发生器为扫频模式，同时设置扫描频段，扫描步长为λ； 5、当激励信号源产生的激励信号输入至电涡流线圈后，信号发生器在扫描频段内，以步长λ对基体上的塑料片di进行扫描，然后记录电涡流线圈在每个频率下对应的阻抗虚部大小； 6、将相邻两个频率下对应的阻抗虚部大小作差，得到阻抗虚部变化量，然后找出阻抗虚部变化量的最小值，并记录为Δli； 7、更换塑料片，重复步骤5和6，找出不同标准厚度的塑料片对应的阻抗虚部变化量的最小值，记为Δl1,Δl2,…,Δli,…,Δln； 8、将不同标准厚度的塑料片的厚度值d1,d2,…,dn，及对应的阻抗虚部变化量的最小值Δl1,Δl2,…,Δli,…,Δln输入至拟合工具matlab，通过matlab拟合出涂覆层厚度D与阻抗虚部变化量最小值l的四阶多项式； D＝p1l4+p2l3+p3l2+p4l+p5其中，p1～p5为拟合系数； 9、将带有涂覆层的被测试件放置在基体上，然后按照步骤3～6，找出阻抗虚部变化量的最小值Δl； 10、令Δl＝l，代入步骤8中的拟合公式，从而计算出被测试件的涂覆层厚度D。

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