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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利一种在位测量控时磨削装置及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116330089B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310265144.9，技术领域涉及：B24B13/00；该发明授权一种在位测量控时磨削装置及其测量方法是由翟德德;戴一帆;胡皓;孙梓洲;陈善勇;关朝亮设计研发完成，并于2023-03-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种在位测量控时磨削装置及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种在位测量控时磨削装置，包括床身，床身上设有沿X轴运动并可旋转调节的工件安装座、沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台和测量平台，控时磨削加工平台上设有控时磨削加工机构，测量平台的顶部设有第一测量机构，底部设有第二测量机构。还公开了一种在位测量控时磨削装置的测量方法，包括步骤：移位；校准；第一次形成光栅测量轨迹；补偿误差；第二次形成光栅测量轨迹；获得准确的面形数据；磨削修形。本在位测量控时磨削装置及其测量方法能够实现光学元件加工的在位测量，降低了因搬运和重复装夹对工件加工精度与效率的影响，提高了测量效率和加工粒度，做到了加工检测一体化。

本发明授权一种在位测量控时磨削装置及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种在位测量控时磨削装置的测量方法，其特征在于：所述在位测量控时磨削装置包括床身6，所述床身6上设有沿X轴运动并可旋转调节的工件安装座1、沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台2和测量平台7，所述控时磨削加工平台2上设有控时磨削加工机构3，所述测量平台7的顶部设有用于测量控时磨削加工平台2在Z轴方向位移变化量的第一测量机构4，底部设有用于测量与工件面8距离的第二测量机构5，所述在位测量控时磨削装置的测量方法包括如下步骤： 步骤S1、移位：磨削加工完成后，将磨削加工机构3沿Y轴移动至控时磨削加工平台2的一侧； 步骤S2、校准：对第一测量机构4和第二测量机构5进行标定和校准； 步骤S3、第一次形成光栅测量轨迹：测量平台7相对工件安装座1上的工件沿X、Y、Z轴的移动，根据第一测量机构4和第二测量机构5的测量数据，第一次形成工件面8的光栅测量轨迹，并提取第一测量机构4和第二测量机构5的测量数据以及床身6的坐标数据； 步骤S4、补偿误差：根据第一测量机构4的测量数据，补偿工件安装座1在Z轴方向的跳动误差； 步骤S5、第二次形成光栅测量轨迹：将工件安装座1旋转90°，重复步骤S3，第二次形成工件面8的光栅测量轨迹，并提取相应的测量数据以及床身6的坐标数据； 步骤S6、获得准确的面形数据：通过将第一次的光栅测量轨迹和第二次的光栅测量轨迹的数据进行拼接，获得工件面8准确的面形数据； 步骤S7、磨削修形：评价面形误差，并反馈于控时磨削加工平台2进行磨削修形。

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