武汉量子技术研究院郑国兴获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉量子技术研究院申请的专利基于相位型全息的纳米印刷角度复用方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116125775B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211104716.7,技术领域涉及:G03H1/08;该发明授权基于相位型全息的纳米印刷角度复用方法及系统是由郑国兴;陈奎先;管志强设计研发完成,并于2022-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于相位型全息的纳米印刷角度复用方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于相位型全息的纳米印刷角度复用方法,包括以下步骤:S1、获取不同的目标灰度图像并对图像强度进行相应的补偿;S2、将补偿后的灰度图像的物光振幅分布与预设的周期相位分布分别组合为不同的物光,再分别与预设的参考光进行干涉叠加,得到相应的相位型全息相位分布;S3、将每一个相位型全息相位分布二次编码到选定的复用角度内,得到最终的印刷角度复用相位分布,每个复用角度对应一个观察角度;S4、根据最终的印刷角度复用相位分布确定纳米砖的转角排布。本发明使得不同的观察角度对应不同的图像,实现通过信息通道的变换即观测角度的变换进行显示图像的切换。
本发明授权基于相位型全息的纳米印刷角度复用方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于相位型全息的纳米印刷角度复用方法,其特征在于,包括以下步骤: S1、获取不同的目标灰度图像并对图像强度进行相应的补偿; S2、将补偿后的灰度图像的物光振幅分布与预设的周期相位分布分别组合为不同的物光,再分别与预设的参考光进行干涉叠加,得到相应的相位型全息相位分布; S3、根据不同的观察角度选定复用角度,确定其对应的复用角度相位分布,将每一个相位型全息相位分布二次编码到选定的复用角度内,得到最终的印刷角度复用相位分布,每个复用角度对应一个观察角度; S4、根据最终的印刷角度复用相位分布确定纳米砖的转角排布; 若有两个不同的观察角度,则该纳米印刷角度复用方法包括以下步骤: 读取两个目标图像的灰度信息,并进行归一化得到不同目标图像灰度信息; 选择参考光,并分别对不同目标图像的强度进行相应的补偿,根据相位型光栅的傅里叶级数展开公式和不同的目标图像强度,采用第一类贝塞尔函数的逆函数进行补偿,得到补偿后相应的物光振幅分布; 将补偿后的物光振幅分布和周期相位分布分别组合为两束不同的物光,先后与参考光进行干涉叠加,得到的相位型全息相位分布; 根据选定的复用编码角度确定其对应的相位分布,再与相位型全息相位分布进行二次编码,得到最终的相位分布; 根据最终的相位分布,确定反射式电介质超表面纳米砖阵列中纳米砖的转角排布。
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