深圳市芯存科技有限公司张波获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市芯存科技有限公司申请的专利一种自标记的芯片坏点测试装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114975367B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210590052.3,技术领域涉及:H01L23/544;该发明授权一种自标记的芯片坏点测试装置是由张波;熊俊设计研发完成,并于2022-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种自标记的芯片坏点测试装置在说明书摘要公布了:本发明公开了一种自标记的芯片坏点测试装置,属于芯片检测技术领域,本方案通过利用超声波检测环对芯片进行坏点检测,同时在芯片上敷设一层由两种变色温度不同的感温变色颗粒制成的变色标记层,当检测到有坏点时,利用发光模块产生高温光束照射变色标记层,对损坏部位进行标记,当损坏位置较深时则持续照射该位置使得变色标记层产生二次变色,使得工作人员可以快速了解具体损坏位置,合理判断是否具有维修价值,利用铁磁流体配合磁性膜贴附于反光腔内壁,提高了光束的集中性,使得感温变色颗粒可以快速变色,当反光室内部温度过高时,铁磁流体失去磁性配合泄光散热室吸收大量的光线,降低反光室的温度,延长了该装置的使用寿命。
本发明授权一种自标记的芯片坏点测试装置在权利要求书中公布了:1.一种自标记的芯片坏点测试装置,包括底板2,其特征在于: 所述底板2上端设有检测座4,所述检测座4上端开设有检测腔401,所述底板2上端开设有一对相互对称的滑槽23,所述滑槽23内部通过电推杆滑动设有滑动固定杆5,所述滑动固定杆5上端通过滑竿相互连接,所述滑竿上滑动设有检测标记组件6,所述检测标记组件6包括滑动伸缩段61,所述滑动伸缩段61下端滑动设有触检段62,所述触检段62内部开设有发光室621,所述发光室621内部设有发光模块622,所述发光室621侧壁设有中介层623,所述中介层623内部设有多个反光腔624,所述反光腔624靠近发光室621一侧壁设有磁性膜,所述反光腔624内部填充有铁磁流体,所述检测标记组件6内部设有与中介层623位置对应的泄光散热室625,所述泄光散热室625内部填充有吸光材料,所述触检段62下端设有与发光室621位置对应的射光头626,所述触检段62下端设有超声检测环63; 还包括芯片1,所述芯片1上端设有一层变色标记层11,所述变色标记层11采用透明凝胶材料制成,所述变色标记层11内部均匀分布有变色材料; 所述变色材料包括两种相互混合而成的感温变色颗粒,两种所述感温变色颗粒之间变色温差在10‑15摄氏度,两种所述感温变色颗粒初始颜色相异。
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