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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))贺致远获国家专利权

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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利GaN功率器件动态应力老化试验方法和系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114895166B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210337482.4,技术领域涉及:G01R31/26;该发明授权GaN功率器件动态应力老化试验方法和系统是由贺致远;陈媛;陈义强;刘昌;徐新兵;施宜军;路国光;黄云设计研发完成,并于2022-04-01向国家知识产权局提交的专利申请。

GaN功率器件动态应力老化试验方法和系统在说明书摘要公布了:本申请涉及一种GaN功率器件动态应力老化试验方法和系统,包括:获取被测GaN功率器件对应的动态脉冲电压应力数据与温度应力数据;其中,动态脉冲电压应力数据用于周期切换被测GaN功率器件的开关状态;根据动态脉冲电压应力数据与温度应力数据得到试验条件;根据试验条件对被测GaN功率器件进行动态应力老化试验,并采集被测GaN功率器件在应力过程中的电参数;根据电参数与预设失效阈值进行比较,得到试验结果,通过施加更接近被测GaN功率器件实际工况的动态脉冲电压应力,更为真实、严苛的反映GaN功率器件的可靠性,同时在应力施加过程中在线快速监测电参数的真实退化情况,避免了离线测试与器件快速恢复特性导致测不准的难题。

本发明授权GaN功率器件动态应力老化试验方法和系统在权利要求书中公布了:1.一种GaN功率器件动态应力老化试验方法,其特征在于,所述的方法包括: 获取被测GaN功率器件对应的动态脉冲电压应力数据与温度应力数据;其中,动态脉冲电压应力数据用于周期切换所述被测GaN功率器件的开关状态; 根据所述动态脉冲电压应力数据与所述温度应力数据得到试验条件;其中,所述试验条件包括应力施加周期、参数采集周期、试验温度、导通试验电压应力与阻断试验电压应力,所述动态脉冲电压应力数据包括栅极动态脉冲电压应力数据与漏极动态脉冲电压应力数据;所述栅极动态脉冲电压应力数据用于产生周期变化的脉冲电压应力施加至所述被测GaN功率器件的栅极,以使所述被测GaN功率器件周期性切换开关状态,所述漏极动态脉冲电压应力数据用于产生周期变化的脉冲电压应力施加至所述被测GaN功率器件的漏极,以使所述被测GaN功率器件在周期性切换为高压阻断状态; 根据所述试验条件对所述被测GaN功率器件进行动态应力老化试验,并采集所述被测GaN功率器件在应力过程中的电参数; 根据所述电参数与预设失效阈值进行比较,得到试验结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),其通讯地址为:511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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