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龙图腾网获悉西拉格国际有限公司申请的专利脉冲超光谱成像、荧光成像和激光标测成像系统中的散斑去除获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114072038B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080045273.1，技术领域涉及：A61B1/045；该发明授权脉冲超光谱成像、荧光成像和激光标测成像系统中的散斑去除是由J·D·塔尔伯特;D·M·威克恩设计研发完成，并于2020-06-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本脉冲超光谱成像、荧光成像和激光标测成像系统中的散斑去除在说明书摘要公布了：本发明描述了脉冲超光谱成像、荧光成像和激光标测成像系统中的散斑去除。一种系统，该系统包括用于发射相干光的脉冲的相干光源、连接到相干光源的光纤束和附接到光纤束的振动机构。该系统包括图像传感器，该图像传感器包括用于感测反射的电磁辐射的像素阵列。该系统使得由相干光源发射的相干光的脉冲的至少一部分包括超光谱发射、荧光发射或激光标测图案中的一者或多者。

本发明授权脉冲超光谱成像、荧光成像和激光标测成像系统中的散斑去除在权利要求书中公布了：1.一种成像系统，包括： 相干光源，所述相干光源用于发射相干光的脉冲，其中，所述相干光源包括多个电磁辐射源，并且其中，所述多个电磁辐射源包括被配置为以激光标测图案脉冲电磁辐射的激光标测源，其中，所述激光标测图案包括适用于对表面进行标测的阵列，并且其中，所述相干光源还包括以下中的一者或多者： 超光谱源，所述超光谱源被配置为能够发射用于激发光谱响应的超光谱波长的电磁辐射；以及荧光源，所述荧光源被配置为能够发射用于使试剂发荧光的荧光激发波长的电磁辐射； 光纤束，所述光纤束连接到所述相干光源； 图像传感器，所述图像传感器包括用于感测经反射的电磁辐射的像素阵列； 振动机构，所述振动机构附接到所述光纤束；以及控制器，所述控制器与所述相干光源和所述图像传感器电子通信并且被配置为能够同步所述相干光源和所述图像传感器的定时； 其中，所述图像传感器被配置为能够生成多个曝光帧，其中，多个曝光帧中的每个曝光帧对应于由所述相干光源发射的相干光的脉冲； 其中，所述多个曝光帧包括： 激光标测曝光帧，通过感测由所述激光标测源脉冲所述激光标测图案而产生的反射激光标测图案生成所述激光标测曝光帧，其中，所述激光标测曝光帧包括感测到的反射激光标测图案； 以及以下中的一者或多者： 响应于所述超光谱源的发射而感测到的超光谱曝光帧；以及响应于所述荧光源的发射而感测到的荧光曝光帧； 其中，所述激光标测曝光帧包括用于确定实时测量的信息，所述信息包括以下中的一者或多者： 从内窥镜到对象的距离； 对象的尺寸； 内窥镜与所述对象之间的角度；以及关于所述对象的表面形貌信息。

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