意法半导体公司M·简恩获国家专利权
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龙图腾网获悉意法半导体公司申请的专利用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114719846B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111619220.9，技术领域涉及：G01C21/16；该发明授权用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法是由M·简恩;M·乔达里设计研发完成，并于2021-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法在说明书摘要公布了：本公开的实施例涉及用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法。电子设备包括输出磁力计传感器信号的磁力计和输出陀螺仪传感器信号的陀螺仪。该电子设备包括利用陀螺仪传感器信号校准磁力计的磁力计校准模块。电子设备基于卡尔曼滤波过程生成第一磁力计校准参数。电子设备基于最小平方估计过程生成第二磁力计校准参数。
本发明授权用于使用陀螺仪的快速磁力计校准的系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种用于磁力计校准的方法，包括： 利用电子设备的陀螺仪生成陀螺仪传感器信号； 利用所述电子设备的磁力计生成磁力计传感器信号； 通过利用所述陀螺仪传感器信号和所述磁力计传感器信号执行卡尔曼滤波过程来估计第一磁力计校准参数； 通过利用所述陀螺仪传感器信号和所述磁力计传感器信号执行最小平方过程来估计第二磁力计校准参数； 通过分析在所述第一磁力计校准参数和所述第二磁力计校准参数之间的收敛来验证所述第一磁力计校准参数和所述第二磁力计校准参数；以及 同时操作卡尔曼滤波器过程和最小平方过程的多个实例，其中所述卡尔曼滤波器过程和所述最小平方过程的所述多个实例在时间上彼此偏移，其中同时操作所述卡尔曼滤波器过程和所述最小平方过程的所述多个实例包括连续地校准所述磁力计。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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