上海华虹宏力半导体制造有限公司朱渊源获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华虹宏力半导体制造有限公司申请的专利芯片的测试方法、装置、设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114545203B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210149662.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片的测试方法、装置、设备和存储介质是由朱渊源设计研发完成，并于2022-02-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片的测试方法、装置、设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种芯片的测试方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：载入目标晶圆上的芯片图形；基于载入的芯片图形，依次进行N个项目的图形测试，得到N个测试项目中每个测试项目的测试结果，N为自然数，N≥2；对每个测试项目的测试结果进行处理，得到目标晶圆的测试结果。本申请通过一次性载入目标晶圆上的芯片图形后，基于载入的芯片图形，依次进行多个项目的图形测试，得到多个测试项目中每个测试项目的测试结果，对每个测试项目的测试结果进行处理，得到目标晶圆的测试结果，由于不需要在每个测试项目的图形测试前进行芯片图形载入，因此能够节省测试时间，提高了生产效率。
本发明授权芯片的测试方法、装置、设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片的测试方法，其特征在于，所述方法由测试设备中的控制设备执行，所述方法包括： 载入目标晶圆上的芯片图形； 基于载入的芯片图形，依次进行N个项目的图形测试，得到N个测试项目中每个测试项目的测试结果，N为自然数，N≥2； 对所述每个测试项目的测试结果进行处理，得到所述目标晶圆的测试结果； 其中，所述图形测试是将所述目标晶圆放置于测试设备的载片台上，通过控制所述测试设备的探针臂移动探针卡，使所述探针卡上的针脚与所述目标晶圆上的芯片图形接触进行的测试。
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