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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115355991B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210816101.0，技术领域涉及：G01J3/45；该发明授权相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法是由吕金光;梁静秋;郑凯丰;赵莹泽;赵百轩;陶金;王惟彪;秦余欣设计研发完成，并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法，其中的光谱仪包括：光源系统、相位调制系统和探测器系统；相位调制系统包括：分束器、行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列；光源系统用于发出一束线偏振光束入射至分束器被分为反射光束和透射光束，反射光束和透射光束分别入射至行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列中再次发生反射后产生预设光程差，反射光束和透射光束返回至分束器中发生叠加干涉后产生干涉光束；干涉光束入射至探测器系统后得到干涉图像序列，获取线偏振光束的光谱信息。本发明解决了动镜扫描型傅里叶变换光谱仪机械扫描带来的可靠性低、体积重量大和实时性差问题。

本发明授权相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种相位调控阵列液晶光谱仪，其特征在于，包括：光源系统、相位调制系统和探测器系统；所述相位调制系统包括：分束器、行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列； 所述光源系统用于发出一束线偏振光束入射至所述分束器被分为反射光束和透射光束，所述反射光束和透射光束分别入射至所述行向液晶相位调控阵列和所述列向液晶相位调控阵列中再次发生反射后产生预设光程差，所述反射光束和透射光束返回至所述分束器中发生叠加干涉后产生干涉光束；所述干涉光束入射至探测器系统后得到干涉图像序列，获取所述线偏振光束的光谱信息； 所述行向液晶相位调控阵列或列向液晶相位调控阵列由N个条形液晶相位调控单元组成；所述行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列相对于所述分束器镜像正交放置；所述反射光束经所述分束器的反射后入射至所述行向液晶相位调控阵列；所述透射光束经所述分束器的透射后入射至所述列向液晶相位调控阵列； 加载不同驱动电压的所述条形液晶相位调控单元的液晶层中向列相液晶分子具有不同的长轴指向倾角； 不同的向列相液晶分子长轴指向倾角对应不同的折射率； 行向液晶相位调控阵列中第i个行向条形液晶相位调控单元的非寻常光折射率为，等效折射率为； 列向液晶相位调控阵列中第j个列向条形液晶相位调控单元的非寻常光折射率为，等效折射率为； 其中，θi为所述行向液晶相位调控阵列第i个条形液晶相位调控单元的向列相液晶分子的长轴指向倾角；θj为所述列向液晶相位调控阵列第j个条形液晶相位调控单元的向列相液晶分子的长轴指向倾角；i=0，1，2…N-1；j=0，1，2…N-1；no、ne分别为无电压时向列相液晶中寻常光和非寻常光的折射率； 当所述行向液晶相位调控阵列和列向液晶相位调控阵列中相邻条形液晶相位调控单元具有相同的折射率差值时： 所述行向液晶相位调控阵列的液晶层厚度Lx与列向液晶相位调控阵列的液晶层厚度Ly满足如下关系： ， 当所述行向液晶相位调控阵列与列向液晶相位调控阵列具有相同的液晶层厚度时： 所述行向液晶相位调控阵列相邻条形液晶相位调控单元的折射率差值与列向液晶相位调控阵列相邻条形液晶相位调控单元的折射率差值满足如下关系： ， 其中，λmin为所述线偏振光束中的最小波长。

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