上海交通大学柴泽获国家专利权
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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利一种无损监测晶界弛豫强化纳米金属的方法及工艺参数的确定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115326853B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210990911.8，技术领域涉及：G01N23/2055；该发明授权一种无损监测晶界弛豫强化纳米金属的方法及工艺参数的确定方法是由柴泽;陈小奇设计研发完成，并于2022-08-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种无损监测晶界弛豫强化纳米金属的方法及工艺参数的确定方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种无损监测晶界弛豫强化纳米金属的方法及工艺参数的确定方法，监测方法包括以下步骤：1采用X射线衍射仪，获取纳米金属晶界弛豫过程中的至少两个衍射晶面的衍射图谱；2计算纳米金属晶界弛豫过程中各衍射晶面的晶面间距；3计算纳米金属晶界弛豫过程中各衍射晶面的晶格应变。本发明首次提出利用X射线衍射技术原位监测晶界弛豫低温热处理过程中晶面间距的变化，以平均晶格应变作为准确反映晶界弛豫程度的微观结构特征指标，有效解决了热处理工艺参数难以确定及晶界弛豫强化效果难以保证的问题，为利用高效低能的热处理设计制备高性能纳米金属材料提供工艺指导和质量保证。
本发明授权一种无损监测晶界弛豫强化纳米金属的方法及工艺参数的确定方法在权利要求书中公布了：1.一种无损监测晶界弛豫强化纳米金属的方法，其特征在于，包括以下步骤： （1）采用X射线衍射仪，获取纳米金属晶界弛豫过程中的至少一个衍射晶面的衍射图谱； （2）采用重心法确定各衍射晶面的衍射峰的位置，然后根据各衍射晶面的衍射峰的位置计算纳米金属晶界弛豫过程中各衍射晶面的晶面间距；晶面间距的计算公式如下式1所示： 式1 其中，d hkl表示晶面间距，n表示衍射级数，λ表示X射线波长，θ表示布拉格角； （3）根据纳米金属晶界弛豫过程中各衍射晶面的晶面间距计算纳米金属晶界弛豫过程中各衍射晶面的晶格应变；晶格应变的计算公式如下式2所示： 式2 其中，e hkl表示晶格应变，表示晶界弛豫过程中的衍射晶面的晶面间距，表示衍射晶面的初始的晶面间距。
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