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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种圆极化天线参数近场测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115774153B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211441959.X，技术领域涉及：G01R29/10；该发明授权一种圆极化天线参数近场测试系统及方法是由薛正辉;史源盛;任武;石猛;李伟明设计研发完成，并于2022-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种圆极化天线参数近场测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种圆极化天线参数近场测试系统及方法。基于现有的圆极化天线测试技术，无法满足使用的需要，因此本发明根据新型的电磁量子探测技术，利用电磁波与里德堡原子之间的耦合关系，以及里德堡态下原子能级波函数对于电磁波响应状态的关系，巧妙地设计激光路径、利用激光与碱金属原子的相互作用关系，利用与里德堡原子测量电磁波相位相关的外差的方法，创新性地解决了实时、原位地测量圆极化电磁波的水平极化和垂直极化特性，有效地并且同步地完成圆极化天线的测试，并且可以测出两个极化方向的相对相位差，进而可以判断天线圆极化的左旋特性和右旋特性，极大地解决了圆极化天线测试在判断左右旋极化特性上的问题。

本发明授权一种圆极化天线参数近场测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种圆极化天线参数近场测试系统，其特征在于： 该测试系统的组成包括探测光激光器1、探测光二分之一波片2、探测光PBS分光镜3、四个探测光反射镜4、碱金属原子气室5、两个耦合光反射镜6、五个耦合光反射镜7、探测光反射镜8、两个探测光光电探测器9、耦合光激光器12、耦合光PBS分光镜13、耦合光二分之一波片14；探测光反射镜8能够透过耦合光； 四个探测光反射镜4分别为第四一反射镜4’、第四二反射镜4”、第四三反射镜4”’、第四四反射镜4””； 两个耦合光反射镜6分别是第六一反射镜6’和第六二反射镜6”； 五个耦合光反射镜7分别是第七一反射镜7’、第七二反射镜7”、第七三反射镜7”’、第七四反射镜7””和第七五反射镜7””’； 两个探测光光电探测器9分别是第一探测器9’、第二探测器9”； 从探测光激光器1出来的激光经过探测光二分之一波片2进行调整激光的偏振方向，探测光二分之一波片2调整激光不同偏振方向上的光强，激光在经过探测光PBS分光镜3，探测光PBS分光镜3将激光分成两路不同偏振光路1和偏振光路2，偏振光路1依次经过第四四反射镜4””、第四一反射镜4’进行反射调整方向后进入碱金属气室5，经过碱金属气室5的偏振光路1依次经过第六二反射镜6”、第四二反射镜4”、第四三反射镜4”’调整光路方向后进入第一探测器9’得到第一电信号； 从探测光PBS分光镜3出来的偏振光路2经过探测光反射镜8调整光路方向后进入碱金属气室5，通过碱金属气室5的偏振光路2通过第六一反射镜6’调整方向后进入第二探测器9”得到第二电信号； 从耦合光激光器12出射的激光经过耦合光二分之一波片14进行调整光路偏振，耦合光二分之一波片14调整激光不同偏振方向上的光强，经过光强调整后的激光经过耦合光PBS分光镜13，耦合光PBS分光镜13将激光分成两路不同偏振光光路3和偏振光路4，偏振光光路3依次经过第七一反射镜7’、第七二反射镜7”、第七三反射镜7”’、第七四反射镜7””和第七五反射镜7””’后再经过第六二反射镜6”进入碱金属气室5，在碱金属气室5中与偏振光路1共线相向传播；偏振光路1和偏振光路3相向传播时标记为传播光路1； 从耦合光PBS分光镜13出来的偏振光路4经过第六一反射镜6’进入碱金属气室5，在碱金属气室5与偏振光路2中共线相向传播，偏振光路2和偏振光路4相向传播时标记为传播光路2。

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