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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利基于X射线阵列靶光源的光栅相衬成像系统的调试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116577357B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310549787.6，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权基于X射线阵列靶光源的光栅相衬成像系统的调试方法是由林绮思;吴朝;熊瑛;关勇;刘刚;田扬超设计研发完成，并于2023-05-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于X射线阵列靶光源的光栅相衬成像系统的调试方法在说明书摘要公布了：一种基于X射线阵列靶光源的光栅相衬成像系统的调试方法，该方法包括：将激光发射机构放置在导轨上，使得激光发射机构发射竖直光束和水平光束；将X射线阵列靶光源和X射线探测器放置在导轨上；将X射线形成的光斑中心与X射线探测器的目标位置对准；调节分析光栅，使得竖直光束和水平光束的交线穿过第一衍射明纹的中心；调节分束光栅，使得竖直光束和水平光束的交线穿过第二衍射明纹的中心；调节X射线阵列靶光源、分束光栅、分析光栅和X射线探测器的相对位置获得莫尔纹；同步旋转调节分束光栅和分析光栅使莫尔纹竖直；单独调节分束光栅和分析光栅使莫尔纹可见度最高，沿光轴移动分束光栅，在X射线探测器上得到大致均匀分布的光场。

本发明授权基于X射线阵列靶光源的光栅相衬成像系统的调试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于X射线阵列靶光源的光栅相衬成像系统的调试方法，所述光栅相衬成像系统包括导轨以及依次设置在所述导轨上的X射线阵列靶光源、分束光栅、分析光栅以及X射线探测器，所述调试方法包括： 将激光发射机构放置在所述导轨上，并且使得所述激光发射机构发射竖直光束和水平光束，所述竖直光束和所述水平光束的传播方向相同，所述竖直光束沿着竖直方向分布，所述水平光束沿着水平方向分布，所述竖直光束和所述水平光束的交线为光轴所在的直线，所述导轨的延伸方向与所述光轴平行； 将所述X射线阵列靶光源和所述X射线探测器放置在所述导轨上，并且使得所述X射线阵列靶光源的出光口中心与所述X射线探测器接收平面的目标位置对准； 调节所述X射线阵列靶光源和所述X射线探测器的姿态，将所述X射线阵列靶光源发出的X射线形成的光斑中心与所述X射线探测器的目标位置对准，其中，所述光轴与所述X射线所在的轨迹重合； 将所述分析光栅放置在所述导轨上，并调节所述分析光栅，使得所述竖直光束和所述水平光束的交线穿过第一衍射明纹的中心，其中，所述第一衍射明纹为所述水平光束和所述竖直光束照射在所述分析光栅上产生的； 将所述分束光栅放置在所述导轨上，并调节所述分束光栅，使得所述竖直光束和所述水平光束的交线穿过第二衍射明纹的中心，其中，所述第二衍射明纹为所述水平光束和所述竖直光束照射在所述分束光栅上产生的； 调节所述X射线阵列靶光源、所述分束光栅、所述分析光栅和所述X射线探测器的相对位置，使得在所述X射线探测器上能够观察到莫尔纹图案，所述莫尔纹图案为所述X射线经过所述分束光栅与所述分析光栅后形成的； 同步旋转调节所述分束光栅和所述分析光栅，或单独旋转调节所述X射线源，使得所述莫尔纹图案与所述分束光栅的光栅刻槽方向以及所述分析光栅的光栅刻槽方向平行，以确保所述X射线阵列靶光源中靶结构的刻线与所述分束光栅的刻线和所述分析光栅的刻线同时平行； 单独调节所述分束光栅和所述分析光栅使得莫尔纹可见度最高，再沿光轴移动所述分束光栅，在所述X射线探测器上得到大致均匀分布的光场，完成光路调试。

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