买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉浙江大学申请的专利一种MiniLED缺陷检测方法、电子设备、介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119090851B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411220178.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种MiniLED缺陷检测方法、电子设备、介质是由刘妹琴;马卓佳;张森林;郑荣濠;董山玲设计研发完成，并于2024-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种MiniLED缺陷检测方法、电子设备、介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种MiniLED缺陷检测方法、电子设备、介质，包括：获取有缺陷的MiniLED图像，并对其关键位置和类别进行标注，作为训练集；构建并训练缺陷检测模型；缺陷检测模型包括：对MiniLED图像进行特征提取，经多尺度特征层处理后，得到第一、第二、第三尺度特征；对第一、第二、第三尺度特征进行特征对齐、全局信息融合处理，得到全局融合信息；对全局融合信息进行分解，得到第一、第二融合信息；第一融合信息经细节增强处理后与第一尺度特征拼接，输出第一预测结果；第二融合信息经空间交叉处理后与第二尺度特征拼接，输出第二预测结果；将第三尺度特征直接输出，作为第三预测结果；将待检测的MiniLED图像输入至原先训练好的缺陷检测模型中，得到缺陷检测结果。

本发明授权一种MiniLED缺陷检测方法、电子设备、介质在权利要求书中公布了：1.一种MiniLED缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取有缺陷的MiniLED图像，并对有缺陷的MiniLED图像中的缺陷的关键位置和类别进行标注，作为训练集； 构建缺陷检测模型，并设置损失函数利用训练集对缺陷检测模型进行训练；所述缺陷检测模型包括： 对MiniLED图像进行特征提取，经多尺度特征层处理后，得到第一尺度特征、第二尺度特征、第三尺度特征； 对第一尺度特征、第二尺度特征、第三尺度特征进行特征对齐、全局信息融合处理，得到全局融合信息； 对全局融合信息进行分解，得到第一融合信息、第二融合信息； 第一融合信息经细节增强处理后与第一尺度特征拼接，输出第一预测结果；第二融合信息经空间交叉处理后与第二尺度特征拼接，输出第二预测结果；将第三尺度特征直接输出，作为第三预测结果； 将待检测的MiniLED图像输入至原先训练好的缺陷检测模型中，得到缺陷检测结果； 其中，全局信息融合处理的表达式如下： FBottleneck＝Conv1×1{Bottleneck[Conv1×1Fin]}+Fin Fcsp＝LeakyReLU[BNFBottleneck] Ffuse＝ReLU{LN[Conv1×1Fin_1]}+Fin_1 式中，Fin表示经过特征对齐后的信息；FBottleneck表示经过残差模块处理后的特征；Fcsp表示FBottleneck经BatchNorm和LeakyReLU层处理后得到的特征；Fcsp与其经过卷积处理后的特征相乘，得到融合特征Fin_1，最终经过归一化LayerNorm层和激活函数ReLU处理后，得到最终的全局融合信息Ffuse。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浙江大学，其通讯地址为：310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。