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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种MCU自动化测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119597565B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411313448.9，技术领域涉及：G06F11/273；该发明授权一种MCU自动化测试方法是由李荣杰;杨万渝;解维坤;黄沛文设计研发完成，并于2024-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种MCU自动化测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种MCU自动化测试方法通过在外围电路上集成一颗主控MCU芯片，用于与测试机台和待测器件连接进行配置加载程序，通过测试机台控制主控芯片对待测的MCU烧写不同的程序后再进行相应的测试。本发明解决了在MCU测试过程中程序需要在线重复配置加载的问题，即在MCU测试过程中无需外部人工干预，全程由测试机台控制完成程序的重复配置加载与测试验证。本发明优化了芯片测试验证流程，大大提升了MCU测试验证的效率。

本发明授权一种MCU自动化测试方法在权利要求书中公布了：1.一种MCU自动化测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 1、在外围电路上集成一颗主控MCU芯片，用于与测试机台和待测MCU芯片连接进行配置加载程序，通过测试机台控制主控芯片对待测的MCU芯片烧写不同的程序后再进行相应的测试； 2、测试前准备：解析待测MCU芯片对应的FLM文件即FLM下载算法，通过PC端将调试完成的X个功能码即编译完成的X个BIN文件以及解析后的FLM下载算通过脚本转换为可烧录至FLASH的二进制数据的脚本文件，通过JTAG协议存储到主控MCU芯片中，其中，主控MCU芯片的主控程序通过轮询的方式接收测试机台的命令控制读写待测MCU芯片的FLASH； 3、测试机台控制主控MCU芯片配置程序：测试机台发送指令操控主控MCU芯片配置不同功能码至待测MCU芯片，以测试MCU芯片内部资源； 4主控MCU芯片配置程序：主控MCU芯片连接待测MCU芯片的SWDIOSWCLK引脚，通过SWD协议发送数据码流将功能码配置至待测MCU芯片中，待测MCU芯片的调试端口DP实现主控MCU芯片的调试接口与待测MCU芯片的物理连接，待测MCU芯片的访问端口AP实现对内核资源的访问，配置成功后，主控MCU芯片发送配置成功信息给测试机台； 5、启动执行程序：测试机台接收到主控MCU芯片发送来的配置成功信息后，配置待测MCU芯片从内部FLASH启动执行程序； 6、执行测试验证：测试机台对待测MCU芯片执行测试和验证，包括交直流参数测试与外设功能验证； 7、判断测试是否结束，即X个功能码是否都已经配置给待测MCU芯片，如果结束，则MCU测试完成，如果没有结束，则返回步骤3。

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