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龙图腾网获悉浙江大华技术股份有限公司申请的专利设备PUF值的生成方法、装置、存储介质及电子装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119312414B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411370917.0，技术领域涉及：G06F21/73；该发明授权设备PUF值的生成方法、装置、存储介质及电子装置是由陈梁;曾华安;薛光峰;叶超;何俊涛;袁文君;王旭燕设计研发完成，并于2024-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本设备PUF值的生成方法、装置、存储介质及电子装置在说明书摘要公布了：本发明实施例提供了一种设备PUF值的生成方法、装置、存储介质、电子装置及程序产品，其中，该方法包括：获取预先确定出的重启次数；控制所述目标设备分别在所述重启次数个启动环境下开机，并获取所述目标设备每次开机后内置的SRAM的目标上电初始值，其中，所述多个启动环境中包括所述重启次数个启动环境；基于多个所述目标上电初始值中取值变化率小于预定阈值的比特位上的取值确定出用于对所述目标设备的SRAM的所述待纠错特征值进行纠错的辅助码，以使所述目标设备基于所述辅助码确定所述目标设备的物理不可克隆功能PUF值。

本发明授权设备PUF值的生成方法、装置、存储介质及电子装置在权利要求书中公布了：1.一种设备PUF值的生成方法，其特征在于，包括： 获取预先确定出的重启次数，其中，所述重启次数是预先通过如下方式确定的：控制多台测试设备分别在多个启动环境下开机，并获取每个所述测试设备开机后内置的静态随机存取存储器SRAM的测试上电初始值，其中，不同的测试设备所处的启动环境不同，不同的启动环境中包括的环境参数不完全相同，多台所述测试设备的类型均为目标类型；确定出多个所述测试上电初始值中，取值均相等的比特位的第一数量，以及，取值相等比例大于预定比例且小于1的比特位的第二数量，其中，所述预定比例小于1；基于所述第一数量以及多种纠错算法的耗时确定出目标设备的SRAM的待纠错特征值的第一长度，以及目标纠错算法，其中，所述第一长度小于所述第一数量，所述目标设备的类型为所述目标类型；基于所述第二数量、所述第一数量、所述第一长度以及第一纠错位数确定所述目标设备的所述重启次数，其中，所述第一纠错位数为所述目标纠错算法的纠错位数； 控制所述目标设备分别在所述重启次数个启动环境下开机，并获取所述目标设备每次开机后内置的SRAM的目标上电初始值，其中，所述多个启动环境中包括所述重启次数个启动环境； 基于多个所述目标上电初始值中取值变化率小于预定阈值的比特位上的取值确定出用于对所述目标设备的SRAM的所述待纠错特征值进行纠错的辅助码，以使所述目标设备基于所述辅助码确定所述目标设备的物理不可克隆功能PUF值。

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