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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种基于场景的推扫式高光谱图像自适应非均匀校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119417738B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411448899.3，技术领域涉及：G06T5/90；该发明授权一种基于场景的推扫式高光谱图像自适应非均匀校正方法是由孙德新;刘银年;廉小颖设计研发完成，并于2024-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于场景的推扫式高光谱图像自适应非均匀校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于场景的推扫式高光谱图像自适应非均匀校正方法，将高光谱图像的一个波段的每一扫描行按不同空间维像元DN值从小到大自动排序，并自适应选取空间维至少一个暗均匀区域和亮均匀区域，得到每个空间维像元的校正系数，完成每个空间维的非均校正；基于光谱维特性，针对空间维的非均校正结果完成光谱维非均匀校正，针对光谱维非均匀校正结果，重复空间维的非均校正，则完成高光谱图像非均匀校正。该方法全自动化应用，能突破场景的限制，利用空间光谱联合信息进行非均匀校正，最大程度保留了高光谱图像的空间结构信息及光谱信息，能有效提高高光谱图像质量，适用于各种复杂场景的海量高光谱图像的自适应非均匀校正，具有很好的通用性。

本发明授权一种基于场景的推扫式高光谱图像自适应非均匀校正方法在权利要求书中公布了：1.一种基于场景的推扫式高光谱图像自适应非均匀校正方法，其特征在于，将高光谱图像的一个波段的每一扫描行按不同空间维像元DN值从小到大自动排序，并自适应选取空间维至少一个暗均匀区域和亮均匀区域，得到每个空间维像元的校正系数，完成每个空间维的非均校正；基于光谱维特性，针对空间维的非均校正结果完成光谱维非均匀校正，针对光谱维非均匀校正结果，重复空间维的非均校正，则完成高光谱图像非均匀校正，具体包括如下步骤： 1选取完成异常值处理的尺寸为H×W×C的高光谱图像，其中H为行，W为列，C为波段数，将高光谱图像的第k波段的每一扫描行按不同空间维像元DN值从小到大自动排序，对每一扫描行求均值通过对均值求导数曲线得到空间维像元DN值均匀区域,其导数曲线中频数最大值对应均匀区域的行号L，其中,1≤L≤H； 2选取空间维像元DN值均匀区域上区域L上行为暗均匀区域L上×Wk，下区域L下行为亮均匀区域L下×Wk,其中1≤k≤C，1≤L上≤H，1≤L下≤H；计算第k波段的暗均匀区域L上×Wk的像元DN值均值P暗k和亮均匀区域L下×Wk的像元DN值均值P亮k；再计算暗均匀区域L上×Wk第j列像元DN值均值Q暗j,k与亮均匀区域L下×Wk第j列像元DN值均值Q亮j,k，其中1≤j≤W； 3构建如下方程，得到第k波段第j列像元的非均匀性校正系数aj,k和bj,k： 4对推扫式高光谱图像第k波段第j列像元原始响应值DNj,k进行非均匀校正，得到校正后的响应值，完成图像空间维第k波段第j列像元的非均匀校正： DN_spaj,k＝aj,k×DNj,k+bj,k； 5按照上述步骤完成空间维每一像元所有波段原始响应值DNi,j,k的非均匀校正，得到每空间维每一像元所有波段校正后的响应值DN_spai,j,k的均值xmean_spa，再计算每一个像元所有波段空间维像元原始响应均值xmean与xmean_spa之间的比值ratio，求得高光谱图像光谱维的非均匀校正响应值DN_spei,j,k： DN_spei,j,k＝DN_spai,j,k×ratio 其中，i为选取的高光谱图的第i行，1≤i≤H； 6针对光谱维校正后的响应值DN_spei,j,k，重复上述步骤1至4，则完成高光谱图像非均匀校正。

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