清华大学深圳国际研究生院涂彦昕获国家专利权
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龙图腾网获悉清华大学深圳国际研究生院申请的专利一种聚合物绝缘材料的热波层析成像方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119104543B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411473872.X,技术领域涉及:G01N21/71;该发明授权一种聚合物绝缘材料的热波层析成像方法及装置是由涂彦昕;曹彬;王黎明;李亮;梅红伟设计研发完成,并于2024-10-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种聚合物绝缘材料的热波层析成像方法及装置在说明书摘要公布了:本发明提出一种聚合物绝缘材料的热波层析成像方法及装置,实现材料内部结构的快速、无损、高分辨成像。该方法主要包括:首先,采用对数调频方法对材料进行光热激励,集中低频段能量以增强深层热波能量。然后,使用红外热像仪采集热扩散过程的红外热图序列,获取热响应信号。接着,通过调整频率扫描参数的终止频率,引入频率差,处理红外热图序列,计算相位信息,选择特定频率的相位图作为层析图,并关联深度信息。最后,应用超分辨算法对特征热图进行去模糊处理,生成三维层析图,实现高分辨率成像。本发明的热波层析成像具有快速、无损、高分辨、非接触、大面积、可视化的特点,适用于聚合物绝缘材料检测。
本发明授权一种聚合物绝缘材料的热波层析成像方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种聚合物绝缘材料的热波层析成像方法,其特征在于,包括以下步骤: A1.使用对数调频方法对聚合物绝缘材料进行光热激励,其中在激励信号的起始频率至终止频率的扫描过程中,通过控制激励信号的频率随时间变化符合对数函数关系,将能量集中在低频段,以增强低频区域的热波能量;步骤A1中,对数调频的激励信号符合以下方程: ; 式中,Q LogFM 表示对数调频光热激励函数,Q 0是热源能量密度,f s 和f e 分别是调频起始和终止频率,T是调频扫描时间,t是信号加载时间; A2.通过红外热像仪采集由光热激励引起的热扩散过程的红外热图序列,以获取材料内部结构的热响应信号; A3.对采集的红外热图序列进行信号处理,通过在数据处理阶段调整频率扫描参数的终止频率来引入频率差,以获取不同频率下的变换信号,其中,由设定的起始频率与调整后的终止频率产生一系列具有不同频率差的变换信号,通过计算变换信号的相位信息,并选择对应于起始和终止频率平均值的特定频率的相位图作为层析图,根据频率与材料深度之间的关系,将特征热图与相应的深度信息关联起来; A4.利用超分辨算法对特征热图进行去模糊计算,获取超分辨特征热图,并基于所述超分辨特征热图进行三维层析成像。
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