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龙图腾网获悉广东长兴半导体科技有限公司申请的专利一种应用于存储芯片制备下的安全管理方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119442347B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411502472.7，技术领域涉及：G06F21/78；该发明授权一种应用于存储芯片制备下的安全管理方法及系统是由张治强;苏允康;杨师设计研发完成，并于2024-10-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种应用于存储芯片制备下的安全管理方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片管理技术领域，揭露了一种应用于存储芯片制备下的安全管理方法及系统，包括：确定芯片工艺设备对应的芯片制造规约，制定芯片工艺设备对应的安全预警指标；采集存储芯片在制备工程中的芯片制备数据，基于芯片制备数据，分析芯片工艺设备对应的制备特性维度，计算安全预警指标对应的指标安全因子，评测芯片工艺设备对应的设备安全性能；分析存储芯片对应的芯片物理属性，分析存储芯片对应的微观电路特征，计算存储芯片对应的质量信赖指数；分析存储芯片在存储区域中的存储契合度；制定存储芯片对应的安全管理策略，执行存储芯片在制备下的安全管理，得到管理结果。本发明主要目的在于解决存储芯片制备下的安全管理低的问题。

本发明授权一种应用于存储芯片制备下的安全管理方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种应用于存储芯片制备下的安全管理方法，其特征在于，所述方法包括： 获取制备下的存储芯片，并查询所述存储芯片在制备过程中的芯片工艺设备，确定所述芯片工艺设备对应的芯片制造规约，基于所述芯片制造规约，制定所述芯片工艺设备对应的安全预警指标； 采集所述存储芯片在制备工程中的芯片制备数据，基于所述芯片制备数据，分析所述芯片工艺设备对应的制备特性维度，基于所述制备特性维度，计算所述安全预警指标对应的指标安全因子，基于所述指标安全因子，评测所述芯片工艺设备对应的设备安全性能，其中，所述基于所述制备特性维度，计算所述安全预警指标对应的指标安全因子，包括： 对所述制备特性维度进行标准化处理，得到标准维度值； 计算所述制备特性维度对应的维度权值，结合所述维度权值和所述标准维度值，通过下述公式计算所述安全预警指标对应的指标安全因子： 其中，B表示安全预警指标对应的指标安全因子，表示制备特性维度中第b个维度对应的标准维度值，b表示制备特性维度的序列号，r表示制备特性维度的数量，表示制备特性维度中第b个维度对应的标准化安全阈值； 采集所述存储芯片在所述芯片工艺设备中的芯片节点图像和芯片电路图，基于所述芯片节点图像，分析所述存储芯片对应的芯片物理属性，基于所述芯片电路图，分析所述存储芯片对应的微观电路特征，结合所述微观电路特征和所述芯片物理属性，计算所述存储芯片对应的质量信赖指数，其中，所述结合所述微观电路特征和所述芯片物理属性，计算所述存储芯片对应的质量信赖指数，包括： 查询所述存储芯片对应的标准电路特征和标准物理属性，计算所述标准电路特征和所述微观电路特征之间的特征差异度； 计算所述标准物理属性和所述芯片物理属性之间的属性差异度； 结合所述特征差异度和所述属性差异度，通过所述下述公式计算所述存储芯片对应的质量信赖指数： 其中，G表示存储芯片对应的质量信赖指数，表示微观电路特征中第d个特征对应的特征差异度，表示芯片物理属性中第e个属性对应的属性差异度，d表示微观电路特征对应的序列号，p表示微观电路特征的特征数量，e表示芯片物理属性对应的序列号，u表示芯片物理属性的属性数量； 获取所述存储芯片对应的存储区域，采集所述存储区域对应的存储环境要素，基于所述存储环境要素，分析所述存储芯片在所述存储区域中的存储契合度； 基于所述设备安全性能、所述质量信赖指数、及所述存储契合度，制定所述存储芯片对应的安全管理策略，基于所述安全管理策略，执行所述存储芯片在制备下的安全管理，得到管理结果。

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