中国科学院上海技术物理研究所王翔获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种高温材料温度和发射率的测量方法及测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119309695B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411550534.1，技术领域涉及：G01K11/00；该发明授权一种高温材料温度和发射率的测量方法及测量系统是由王翔;何志平;杨秋杰;毛志远;顾罗;袁毅帆;林玥;牛晨设计研发完成，并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高温材料温度和发射率的测量方法及测量系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种高温材料温度和发射率的测量方法及测量系统，涉及非接触测量技术领域，所述方法包括以下步骤：采集高温材料的光谱数据，对光谱数据进行辐射校正；在光谱数据的光谱范围内，选取NC个光谱通道的辐出度值En和波长值λn；基于En和λn，构建目标函数；对目标函数采用迭代计算的方法计算发射率εn的数值解；利用εn的数值解，计算温度中间值；利用温度中间值计算高温材料的最终温度TOP；并利用TOP计算高温材料的发射率εobjλ,TOP。此外，还提供了一种测量系统，包括光学镜头、傅里叶光谱仪、激光器、伺服转台、数据采集处理机。该方法能够实时处理大量光谱通道的光谱数据，提高了测量效率和测量精度，该测量系统可实现对高温材料温度和发射率的非接触式测量。
本发明授权一种高温材料温度和发射率的测量方法及测量系统在权利要求书中公布了：1.一种高温材料温度和发射率的测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1：采集高温材料的光谱数据； 步骤2：对所述光谱数据进行辐射校正； 步骤3：在所述光谱数据的光谱范围内，选取NC个光谱通道的辐出度值En和波长值λn； 步骤4：基于所述辐出度值En和所述波长值λn，根据普朗克定律构建目标函数 其中，c1为普朗克第一常数，c2为普朗克第二常数； 步骤5：对步骤4中构建的目标函数，采用迭代计算的方法计算选定的NC个光谱通道的发射率εn的数值解； 步骤6：利用所述发射率εn的数值解，计算高温材料的温度中间值； 步骤7：利用所述温度中间值计算高温材料的最终温度TOP； 步骤8：利用高温材料的最终温度TOP计算高温材料的发射率εobjλ,TOP。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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