永耀缘成电子(商丘)有限公司郭防震获国家专利权
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龙图腾网获悉永耀缘成电子(商丘)有限公司申请的专利半导体框架数量测量治具获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223390124U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422831960.4,技术领域涉及:G06M1/24;该实用新型半导体框架数量测量治具是由郭防震;王世委;孙中旭设计研发完成,并于2024-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体框架数量测量治具在说明书摘要公布了:本实用新型涉及一种半导体框架数量测量治具;该半导体框架数量测量治具包括若干齿牙、相接的弧线边沿和手持端;齿牙设置在弧线边沿端面,向外延伸;若干齿牙沿弧线边沿均布;相邻齿牙之间为计数缝隙;计数缝隙的尺寸与相邻引线框架的间距相当;弧线边沿侧面设有若干刻度线和标数;刻度线正对计数缝隙设置;标数设置在刻度线内端位置;刻度线从弧线边沿一端向弧线边沿另一端依次排序;标数所标数字与刻度线的顺序数相关。本实用新型提供了一种用于引线框架计数的半导体框架数量测量治具;该半导体框架数量测量治具能够降低计数难度,减少计数工作量,提高技术效率;而且齿牙有效分开相邻的引线框架,刻度线和标数能够辅助计数,保障计数正确率。
本实用新型半导体框架数量测量治具在权利要求书中公布了:1.一种半导体框架数量测量治具,其特征在于,包括若干齿牙、相接的弧线边沿和手持端;齿牙设置在弧线边沿端面,向外延伸;若干齿牙沿弧线边沿均布;相邻齿牙之间为计数缝隙;计数缝隙的尺寸与相邻引线框架的间距相当;弧线边沿侧面设有若干刻度线和标数;刻度线正对计数缝隙设置;标数设置在刻度线内端位置;刻度线从弧线边沿一端向弧线边沿另一端依次排序;标数所标数字与刻度线的顺序数相关。
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