中国科学院长春光学精密机械与物理研究所李小冬获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种基于光学平尺检测的非直线导轨拼接仪精度及空间位置标定方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119554958B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411670944.X,技术领域涉及:G01B11/00;该发明授权一种基于光学平尺检测的非直线导轨拼接仪精度及空间位置标定方法是由李小冬;谢晓光;徐伟;李淼;赵桐设计研发完成,并于2024-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于光学平尺检测的非直线导轨拼接仪精度及空间位置标定方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于光学平尺检测的非直线导轨拼接仪精度及空间位置标定方法,包括以下步骤:利用经纬仪自准直原理,使用直角棱镜将非直线导轨基准面引出,并完成非直线拼接仪Y轴滑块与非直线拼接仪Y轴基准面之间标定,确定非直线导轨最低基准点位置;使用光学平尺在非直线拼接仪本体上找正对准,读取显微镜头中观测的标记点位置;通过计算分析得到非直线拼接仪显微镜头工作点实际空间位置均方根值。本发明的标定方法基于光学平尺来检测拼接仪精度并标定空间位置不仅适用于直线运动,更解决了非直线拼接仪精度检测和空间位置标定问题,且标定检测操作方便、周期短,可在每次焦平面拼接前进行标定,有效提高仪器精度标定效率。
本发明授权一种基于光学平尺检测的非直线导轨拼接仪精度及空间位置标定方法在权利要求书中公布了:1.一种基于光学平尺检测的非直线导轨拼接仪精度及空间位置标定方法,其特征在于,该标定方法适用的非直线导轨拼接仪包括:非直线拼接仪本体1; 非直线拼接仪本体1上设有非直线导轨2;在非直线导轨2的中部设有显微镜头3和基准立方棱镜4,在非直线导轨2的一端设有直角棱镜5;在基准立方棱镜4和直角棱镜5的连线方向上设有经纬仪6; 非直线拼接仪本体1上设有两个理石支撑结构9;每个理石支撑结构9上设有一个光学调整台8;在两个光学调整台8上架有光学平尺7; 非直线拼接仪Y轴为非直线导轨2的长度方向,非直线拼接仪X轴为与非直线拼接仪Y轴垂直的水平方向,非直线拼接仪Z轴为竖直方向; 该标定方法包括以下步骤: 步骤1:利用经纬仪自准直原理,使用直角棱镜5将非直线导轨2基准面引出,并完成非直线拼接仪Y轴滑块与非直线拼接仪Y轴基准面之间标定,确定非直线导轨2最低基准点位置; 步骤2:使用光学平尺7在非直线拼接仪本体1上找正对准,读取显微镜头3中观测的标记点位置; 步骤3:通过计算分析得到非直线拼接仪显微镜头3工作点实际空间位置均方根值。
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