北京智芯微电子科技有限公司;中国科学院微电子研究所李德建获国家专利权
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龙图腾网获悉北京智芯微电子科技有限公司;中国科学院微电子研究所申请的专利嵌入式操作系统的内存漏洞检测方法，装置，设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119416226B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411671160.9，技术领域涉及：G06F21/57；该发明授权嵌入式操作系统的内存漏洞检测方法，装置，设备及介质是由李德建;张鑫宇;袭祥吉;冯博;卢延云;郭昶;李振锋设计研发完成，并于2024-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本嵌入式操作系统的内存漏洞检测方法，装置，设备及介质在说明书摘要公布了：本公开涉及计算机安全技术领域，具体涉及一种嵌入式操作系统的内存漏洞检测方法，装置，设备及介质，所述嵌入式操作系统的内存漏洞检测方法包括：获取不同内存漏洞类型的嵌入式操作系统的漏洞代码；对所述漏洞代码进行特征分析，基于特征分析结果构建多维变量信息表；基于所述多维变量信息表构建内存漏洞规则集；利用所述内存漏洞规则集对待检测的嵌入式操作系统代码进行漏洞检测。上述技术方案中通过引入专门针对网络协议栈、驱动程序和内存操作的典型内存漏洞的多维变量信息表，并构建相应的自定义检查规则，克服了现有静态代码分析工具在处理这些复杂系统组件时的主要缺陷。
本发明授权嵌入式操作系统的内存漏洞检测方法，装置，设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种嵌入式操作系统的内存漏洞检测方法，其特征在于，包括： 获取不同内存漏洞类型的嵌入式操作系统的漏洞代码； 对所述漏洞代码进行特征分析，基于特征分析结果构建多维变量信息表，其中，所述多维变量信息表记录有不同漏洞类型对应的函数变量，函数变量对应的变量特征以及变量特征值； 基于所述多维变量信息表构建内存漏洞规则集； 利用所述内存漏洞规则集对待检测的嵌入式操作系统代码进行漏洞检测。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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