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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利基于微波局部穿透效应的非均匀等离子体参数诊断方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119757837B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411904715.X，技术领域涉及：G01R19/08；该发明授权基于微波局部穿透效应的非均匀等离子体参数诊断方法是由黄晓伟;刘诗音;徐浩;盛新庆设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于微波局部穿透效应的非均匀等离子体参数诊断方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于微波局部穿透效应的非均匀等离子体参数诊断方法，涉及电磁学技术领域与等离子体诊断技术领域，包括等离子体剖面电子密度分布以及碰撞频率的联合诊断，本发明中分层对峰值左侧等离子体建模并实现了迭代优化分布结果；本发明利用反射系数幅度斜率最大值推导等离子体电子密度峰值；本发明针对峰值右侧等离子体，进行多种分布模型建模，通过衰减系数确定模型；同时，本发明利用反射系数幅度最大值完成对碰撞频率的诊断。本发明解决了非均匀等离子体剖面参数诊断的问题。

本发明授权基于微波局部穿透效应的非均匀等离子体参数诊断方法在权利要求书中公布了：1.一种基于微波局部穿透效应的非均匀等离子体参数诊断方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、获取等离子体反射系数的幅度和相位曲线，其中，等离子体反射系数的相位曲线用于按照入射频率查询实际反射系数相位； S2、搜索扫频等离子体反射系数幅度下降斜率最大值，确定峰值电子密度，其中，该最大值的频率为峰值电子密度对应的截止频率fc； S3、将待诊断厚度为d的等离子体，根据非均匀划分为N个空间分辨单元，并额外在L为1层前引入第0层，其中，每一个空间分辨单元的厚度根据峰值电子密度对应截止频率fc、入射频率finc最大值对应波长的13进行划分； S4、将碰撞频率的反演初值置于接近0的数； S5、基于局部穿透效应和非均匀划分结果，迭代反演等离子体密度上升沿剖面； S6、在初始反演频率f1处，逐步增大碰撞频率，直至在该频率点的上升沿反演剖面的反射系数幅度接近实测曲线的反射系数幅度，该值即为碰撞频率反演值，完成碰撞频率诊断；其中，该值为使上升沿反演剖面的反射系数幅度接近实测曲线的反射系数幅度的碰撞频率； S7、基于碰撞频率诊断结果，进行多种分布的建模，通过等离子体反射系数的幅度确定衰减系数，并通过衰减系数扫频得到反射系数幅度曲线； S8、将反射系数幅度曲线与标准幅度曲线进行对比，判断反射系数幅度曲线的第二个拐点处是否与标准幅度曲线最接近，若是，则完成下降沿分布诊断，否则，返回步骤S7。

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