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龙图腾网获悉浙江理工大学申请的专利一种纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119715666B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411909612.2，技术领域涉及：G01N25/16；该发明授权一种纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法是由左彪;罗锦添;叶琨;李嘉晨设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法，涉及测量技术领域，该方法应用于一种设置有控温热台的椭偏仪；方法包括：按照谐振式温度调制程序对热台上的薄膜样品进行控温，利用椭偏仪获取薄膜的厚度‑时间曲线；基于获得的厚度‑时间曲线，利用数字信号处理方法确定薄膜厚度响应温度调制程序而产生的谐振式动态变化的振幅和相位，得到振幅‑时间曲线和相位‑时间曲线；进而确定薄膜样品的表观热膨胀系数、可逆热膨胀系数和不可逆热膨胀系数；本申请通过设置温度调制程序，测量薄膜样品的热膨胀行为，从而精确测定薄膜样品的可逆热膨胀系数及其实部和虚部，以及不可逆热膨胀系数，从而准确反映纳米薄膜的分子运动和热弛豫行为。

本发明授权一种纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法在权利要求书中公布了：1.一种纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法，其特征在于，所述纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法应用于一种设置有控温热台的椭偏仪；所述控温热台用于搭载薄膜样品；所述控温热台还用于按照温度调制程序对薄膜样品进行控温；所述温度调制程序包括叠加设置的线性变温程序和谐振式的温度调制； 所述纳米薄膜动态热膨胀性质的测量方法包括： 按照温度调制程序，对控温热台上的薄膜样品进行控温，获取薄膜样品的厚度-时间曲线； 基于温度调制程序的平均温度和频率，以及薄膜样品的厚度-时间曲线，利用数值积分平均方法确定薄膜样品的表观厚度-时间曲线； 基于温度调制程序的平均温度和频率，以及薄膜样品的厚度-时间曲线，利用数字信号处理方法确定薄膜样品的振幅-时间曲线和相位-时间曲线；所述振幅-时间曲线和所述相位-时间曲线均用于描述薄膜样品的厚度响应于谐振式温度调制而产生的谐振式动态变化； 基于温度调制程序的平均温度和频率，以及薄膜样品的表观厚度-时间曲线，利用数值求导公式确定温度调制程序下薄膜样品的表观热膨胀系数； 基于温度调制程序的平均温度、频率、振幅和相位，以及薄膜样品的振幅-时间曲线和相位-时间曲线，利用可逆热膨胀公式确定温度调制程序下薄膜样品的可逆热膨胀系数，以及可逆热膨胀系数的实部和虚部； 基于薄膜样品的表观热膨胀系数和可逆热膨胀系数，利用差公式确定温度调制程序下薄膜样品的不可逆热膨胀系数。

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