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苏州亿芯微电子技术有限公司艾俊盛获国家专利权

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龙图腾网获悉苏州亿芯微电子技术有限公司申请的专利基于多源数据分析的二极管生产质量智能监测方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119941024B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510007295.3,技术领域涉及:G06Q10/0639;该发明授权基于多源数据分析的二极管生产质量智能监测方法及系统是由艾俊盛;朱知莉;何强设计研发完成,并于2025-01-03向国家知识产权局提交的专利申请。

基于多源数据分析的二极管生产质量智能监测方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于多源数据分析的二极管生产质量智能监测方法及系统,涉及生产监测领域,包括:根据生产设备的历史数据,获取设备参数实时标准数据,建立产品合格率预测模型;生成各生产设备的预测产品合格率;获取待测试产品的性能数据和外观数据,分别与标准性能阈值和标准形状数据对比,生成不合格产品数据和待测产品合格率;根据不合格产品数据,生成缺陷产品环境关联趋势;根据预测产品合格率和待测产品合格率,确定预测偏差生产设备;结合预测偏差生产设备的实时运行数据、待测试产品的性能数据,生成设备差异指数;将缺陷产品环境关联趋势、设备差异指数和设备参数实时标准数据结合,建立多重监测标准。

本发明授权基于多源数据分析的二极管生产质量智能监测方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于多源数据分析的二极管生产质量智能监测方法,其特征在于,包括: 获取并分析二极管生产计划,生成标准性能阈值和标准形状数据; 收集生产设备的历史数据,获取设备参数实时标准数据,建立设备的产品合格率预测模型; 获取各生产设备的实时环境数据和工艺参数数据,结合设备的产品合格率预测模型,生成各生产设备的预测产品合格率; 收集待测试产品的性能数据和外观数据,并分别与标准性能阈值和标准形状数据进行对比,生成不合格产品数据和待测产品合格率; 根据生产设备的实时环境数据和不合格产品数据,生成缺陷产品环境关联趋势; 根据预测产品合格率和待测产品合格率,确定预测偏差生产设备; 获取预测偏差生产设备的实时运行数据,结合待测试产品的性能数据和外观数据,生成设备差异指数; 结合设备参数实时标准数据、缺陷产品环境关联趋势和设备差异指数,建立多重监测标准,对设备的实时数据进行监测;所述建立设备的产品合格率预测模型,具体包括: 获取二极管的生产流程和各生产设备的生产作业手册,提取各生产流程的特征步骤和各生产设备的参考参数,所述生产设备的参考参数包括设备参数和环境参数; 将各生产设备的历史数据,分别按工艺参数和设备环境数据进行分类,生成工艺参数分类数据和设备环境数据分类数据; 按时间为基准,对工艺参数分类数据和设备环境数据分类数据进行整理,列举出不同工艺参数与产品合格率的对应关系,以及不同设备环境数据与产品合格率的对应关系; 根据不同工艺参数与产品合格率的对应关系,以及不同设备环境数据与产品合格率的对应关系,分别获取工艺参数差值与设备环境数据差值对应的产品合格率变化值并求平均值,获取工艺参数发生变化后对应产品合格率的变化程度,以及设备环境数据发生变化后对应产品合格率的变化程度,分别记作产品合格率对工艺参数敏感度和产品合格率对生产设备环境敏感度; 将生产流程特征步骤对应的设备记作特征设备,将特征设备的历史数据以周为时间区间进行分类,生成时间周期历史数据,所述时间周期历史数据包括特征设备工艺参数时间序列数据和产品质量数据; 分析时间周期历史数据,以一个小时作为一个分析节点,将产品质量数据按分析节点进行对应,以分析节点为横轴,产品质量数据为纵轴绘制产品质量变化曲线,生成特征设备的时间波动趋势; 根据特征设备的时间波动趋势和生产设备的参考参数,生成设备参数实时标准数据,所述设备参数实时标准数据包括设备参数实时标准数据和设备环境实时标准数据; 以设备参数实时标准数据为基准,分别将各生产设备的实时环境数据和工艺参数数据与设备参数实时标准数据进行比对,获取实时环境数据和工艺参数数据均大于设备参数实时标准数据的生产设备在生产设备总数中的占比,生成生产设备的第一产品预测合格率; 以生产设备的产品合格率为基准,分析生产设备的历史生产数据,获取工艺相互影响指数和工艺环境影响指数; 综合产品合格率对工艺参数敏感度、产品合格率对生产设备环境敏感度、工艺相互影响指数以及工艺环境影响指数,生成设备的初步产品合格率关系式; 将各生产设备所处的静电场强度和磁场的磁感应强度作为生产设备所处生产环境,将各生产设备的实时对准精度、加工时间和封装压力作为工艺参数值,代入生产设备产品合格率关系式,获取第二产品预测合格率; 将第一产品预测合格率和第二产品预测合格率作为输入变量,建立设备的产品合格率预测模型; 其中,生产设备产品合格率关系式具体为:式中,表示第二产品预测合格率,表示第个工艺的产品合格率对工艺参数敏感度,表示第个工艺参数值,表示第个工艺和第个工艺之间的工艺相互影响指数,表示第个工艺参数值,表示第个工艺的产品合格率对工艺参数敏感度,表示第个工艺和生产环境之间的工艺环境影响指数,表示生产设备所处生产环境的具体数值,表示生产设备生成产品所需的工艺总数,表示对生产设备生成产品造成影响的环境总数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人苏州亿芯微电子技术有限公司,其通讯地址为:215000 江苏省苏州市常熟市虞山高新技术产业园三亚路21号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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