华中科技大学陈修国获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种宽光谱快照式椭偏仪的装调标定方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119827427B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510071119.6,技术领域涉及:G01N21/21;该发明授权一种宽光谱快照式椭偏仪的装调标定方法是由陈修国;杨世龙;胡静;陈文龙;王逸夫;刘世元设计研发完成,并于2025-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种宽光谱快照式椭偏仪的装调标定方法在说明书摘要公布了:本申请属于光学测量相关技术领域,具体公开了一种宽光谱快照式椭偏仪的装调标定方法。本申请首先将装调的过程分为多步调制态;初步调制态为偏振元件间相对零度的状态,终步调制态为测量时的状态,中间多步调制态依次为由初步调制态到终步调制态的多个中间状态;推导出每步调制态下椭偏仪理论光谱信号的通道分布;随后按每步调制态逐步装调椭偏仪,使得每步调制态下的实际光谱信号的通道分布最接近对应理论光谱信号的通道分布;从所述实际光谱信号的通道分布中截取不同通道,逆傅里叶变换后组合得到各个波片的相位延迟量,完成椭偏仪的标定。本申请装调标定方法无需额外的装调标定仪器,装调标定过程快捷方便,且精度更高。
本发明授权一种宽光谱快照式椭偏仪的装调标定方法在权利要求书中公布了:1.一种宽光谱快照式椭偏仪的装调标定方法,其特征在于,包括: 将装调的过程分为N+1步调制态;N为椭偏仪中波片数量,初步调制态为偏振元件间相对零度的状态,终步调制态为测量时的状态,中间N-1步调制态依次为由初步调制态到终步调制态的N-1个中间状态; 获取每步调制态下理论光谱信号的通道分布; 按每步调制态的状态逐步装调椭偏仪,使得每步调制态下的实际光谱信号的通道分布最接近对应理论光谱信号的通道分布; 从所述实际光谱信号的通道分布中截取不同通道,逆傅里叶变换后组合得到各个波片的相位延迟量,完成椭偏仪的标定; 所述光谱信号具体为: 其中,是光源的光谱响应,椭偏仪中N个波片的调制效果会耦合为k个不同的调制通道,为第k个调制通道的相位角,为自然对数的底,为虚数单位; 所述通道分布具体为: 其中,是光源的通道分布,椭偏仪中N个波片的调制效果会耦合为k个不同的调制通道,是第k个调制通道的中心频率,为冲激函数。
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