浙江大学;浙江大学衢州研究院刘平伟获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江大学;浙江大学衢州研究院申请的专利预测二硫化钼纳米片在极性溶剂中最高分散浓度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119845801B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510172462.X，技术领域涉及：G01N13/00；该发明授权预测二硫化钼纳米片在极性溶剂中最高分散浓度的方法是由刘平伟;张妤欣;王德良;王文俊;李伯耿设计研发完成，并于2025-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本预测二硫化钼纳米片在极性溶剂中最高分散浓度的方法在说明书摘要公布了：本申请提供了一种预测二硫化钼纳米片在极性溶剂中最高分散浓度的方法，该方法通过将二硫化钼纳米片分散于不同表面张力的极性溶剂中，并利用OWRK理论计算二硫化钼纳米片的表面张力，通过比较极性溶剂与二硫化钼纳米片表面张力之间的差异，建立最高分散浓度与表面张力差值的线性关系模型，该方法能够准确预测在极性溶剂条件下二硫化钼纳米片的最高分散浓度，并通过复配溶剂调节溶剂表面张力进而优化纳米片的分散性,从而提高材料的光电、催化等性能，具有较高的工业应用价值，能够为纳米材料的可控分散和大规模生产提供理论依据，显著提升材料研发和生产效率。
本发明授权预测二硫化钼纳米片在极性溶剂中最高分散浓度的方法在权利要求书中公布了：1.一种预测二硫化钼纳米片在极性溶剂中最高分散浓度的方法，其特征在于，包括以下步骤： （1）获取二硫化钼纳米片在至少两种具有不同表面张力的极性溶剂中的最高分散浓度； （2）计算二硫化钼纳米片的表面张力； （3）计算极性溶剂的表面张力和二硫化钼纳米片的表面张力的张力差，以张力差的绝对值为横坐标，以二硫化钼纳米片在对应极性溶剂中的最高分散浓度为纵坐标绘制拟合图，基于拟合图构建线性关系模型； （4）基于线性关系模型预测二硫化钼纳米片在目标极性溶剂中最高分散浓度。
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