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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利基于太赫兹技术的电极涂层测量的自适应干扰消除方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120426885B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510926662.X，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权基于太赫兹技术的电极涂层测量的自适应干扰消除方法是由郭秀珍;陈旭;谭龙;顾超杰;贺诗波;陈积明;舒元超设计研发完成，并于2025-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于太赫兹技术的电极涂层测量的自适应干扰消除方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于太赫兹技术的电极涂层测量的自适应干扰消除方法，包括：提取太赫兹设备扫描电极涂层时的回波信号飞行时间矩阵；根据飞行时间矩阵提取电极涂层的扫描数据，对飞行矩阵的坐标进行修正；使用前后双侧点云数据的曲率特征进行前后涂层的角度匹配对齐；选取具有内部均匀点特性的支撑点作为最终支撑点；最终支撑点使用相同的入射角和距离扫描平面发射太赫兹信号，根据传播时间得到干扰消除后的正反面涂层厚度并基于折射定律计算电极涂层的折射率。本发明解决了太赫兹设备在扫描双侧电极涂层过程中由放置不一致和翻转错误所导致的双侧涂层点云的匹配问题，以及减小了电极形变所造成的测量误差问题。

本发明授权基于太赫兹技术的电极涂层测量的自适应干扰消除方法在权利要求书中公布了：1.一种基于太赫兹技术的电极涂层测量的自适应干扰消除方法，其特征在于，该方法包括如下步骤： S1、提取太赫兹设备扫描电极涂层时的回波信号，构建回波信号的飞行时间矩阵； S2、根据飞行时间矩阵提取电极涂层的扫描数据，计算涂层与扫描平面的旋转角度，对飞行矩阵的坐标进行修正；使用前后双侧点云数据的曲率特征进行前后涂层的角度匹配对齐； S3、根据正面回波信号的飞行时间矩阵选取候选支撑点，根据角度匹配对齐后正反面涂层飞行时间矩阵确定内部均匀点，选取既是候选支撑点又是内部均匀点的点作为最终支撑点； S4、使用相同的入射角和距离对待检测电极的最终支撑点处正反面涂层和扫描平面发射太赫兹信号； S5、接收反射信号后根据涂层表面的反射信号和扫描平面的反射信号飞行时间差异得到电极的整体厚度； S6、根据太赫兹信号在涂层正反面和涂层下金属层的反射信号飞行时间差异，计算得到太赫兹信号在涂层内的传播时间，根据传播时间得到干扰消除后的正反面涂层厚度并基于折射定律计算电极涂层的折射率。

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