浜松光子学株式会社山本谕获国家专利权
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龙图腾网获悉浜松光子学株式会社申请的专利试样观察装置及试样观察方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN109844606B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201780062595.5，技术领域涉及：G02B21/36；该发明授权试样观察装置及试样观察方法是由山本谕;松原正典;杉山范和设计研发完成，并于2017-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本试样观察装置及试样观察方法在说明书摘要公布了：试样观察装置1具备：照射光学系统3，其对试样S照射面状光L2；扫描部4，其相对于面状光L2的照射面R扫描试样S；成像光学系统5，其具有相对于照射面R倾斜的观察轴P2，将通过面状光L2的照射而在试样S产生的观察光L3成像；图像取得部6，其多次取得与由成像光学系统5成像的观察光L3的光像的一部分对应的部分图像数据；图像生成部8，其基于由图像取得部6生成的多个部分图像数据而生成试样S的观察图像数据。
本发明授权试样观察装置及试样观察方法在权利要求书中公布了：1.一种SPIM选择性平面照明显微镜，其中， 具备： 照射光学系统，其对试样照射面状光； 扫描部，相对于所述面状光的照射面扫描所述试样； 成像光学系统，其具有相对于所述照射面倾斜的观察轴，将通过所述面状光的照射而在所述试样产生的观察光成像； 图像取得部，其多次取得与由所述成像光学系统成像的所述观察光的光像的一部分对应的部分图像数据；以及 图像生成部，其基于由所述图像取得部生成的多个部分图像数据而生成所述试样的观察图像数据， 在所述试样，所述观察轴相对于所述面状光倾斜， 所述扫描部沿着相对于所述照射光学系统的所述面状光的光轴正交的方向扫描所述试样。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浜松光子学株式会社，其通讯地址为：日本静冈县；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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