株式会社佐竹坂本尚志获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社佐竹申请的专利米粒品质测定装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115380202B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080099701.9,技术领域涉及:G01N21/57;该发明授权米粒品质测定装置是由坂本尚志;梶山刚志郎设计研发完成,并于2020-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本米粒品质测定装置在说明书摘要公布了:本发明提供一种能够简便地在短时间内测定白度和光泽值的紧凑的测定装置。该测定装置具有:工作台20,其供载有米粒的试样盘10载置;光泽测定器30,其对载置于工作台的试样盘的米粒的表面照射光泽测定用的光,并接收其反射光,从而来测定米粒的光泽;以及白度测定器40,其也对载置于工作台的试样盘照射白度测定用的光,并通过试样盘接收来自试样盘的米粒的反射光,从而来测定米粒的白度。
本发明授权米粒品质测定装置在权利要求书中公布了:1.一种米粒品质测定装置,其特征在于, 所述米粒品质测定装置具有: 试样盘,其包括米粒横倒而配置一层的光泽用试样区域以及填充多层米粒的白度用试样区域; 转台,其供所述试样盘载置; 光泽测定器,其对载置于所述转台的所述试样盘的所述光泽用试样区域的米粒的表面照射光泽测定用的光,并接收其反射光,从而来测定所述米粒的光泽;以及 白度测定器,其对载置于所述转台的所述试样盘的所述白度用试样区域的米粒照射白度测定用的光,并接收来自所述试样盘的米粒的反射光,从而来测定所述米粒的白度, 所述光泽测定器一边使所述转台旋转一边向所述光泽用试样区域的米粒照射所述光泽测定用的光,并接收其反射光,从而按照所述转台的旋转角度算出光泽值之后,求出其平均值, 在所述转台的下表面配置有一个以上的基准板, 随着所述转台的旋转,所述试样盘和所述一个以上的基准板依次配置在被照射所述白度测定用的光的位置, 所述试样盘的所述光泽用试样区域载置于所述转台的旋转中心, 所述白度用试样区域与所述基准板配置于以所述转台的旋转轴为中心的同一圆上。
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