上海精测半导体技术有限公司周全获国家专利权
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龙图腾网获悉上海精测半导体技术有限公司申请的专利一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114387222B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111580891.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质是由周全;李宜清;简晓敏;肖博翰设计研发完成，并于2021-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质，方法包括：基于多个卷积核分别对待评估图像进行去噪，计算去噪后的待评估图像的梯度图，并对梯度图进行标准化；对标准化后的梯度图进行二值化，并基于二值化梯度图提取待评估图像中的感兴趣区域；基于所述感兴趣区域的梯度矩阵和所述感兴趣区域的面积，计算每一个卷积核去噪后的待评估图像的质量评分，并计算待评估图像的最终质量评分。本发明基于多个卷积核对图像进行滤波，以及基于梯度图提取图像中的感兴趣区域，有效的去除图像噪声，并通过组合评分去评价图像的质量，进一步减少噪声对梯度的影响，提高了评估的精确度。
本发明授权一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种图像质量评估方法，其特征在于，包括： 基于多个不同的卷积核分别对待评估图像进行去噪，计算去噪后的待评估图像的梯度图，并对所述梯度图进行标准化； 对标准化后的所述梯度图进行二值化，并基于二值化梯度图提取待评估图像中的感兴趣区域； 基于所述感兴趣区域的梯度矩阵和所述感兴趣区域的面积，计算每一个卷积核去噪后的待评估图像的质量评分； 基于每一个卷积核去噪后的待评估图像的质量评分，计算待评估图像的最终质量评分； 所述对标准化后的所述梯度图进行二值化，并基于二值化梯度图提取待评估图像中的感兴趣区域，包括： 使用聚类算法对所述梯度图进行二值化，基于二值化梯度图将所述待评估图像分为两类，提取梯度值大的一类像素点组成的区域为所述待评估图像中的感兴趣区域。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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