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中国地质大学(武汉)高辉获国家专利权

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龙图腾网获悉中国地质大学(武汉)申请的专利一种模拟月壤的抗剪强度指标原位测试装置及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119757071B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411898470.4,技术领域涉及:G01N3/24;该发明授权一种模拟月壤的抗剪强度指标原位测试装置及方法是由高辉;张宇欣;王庆涛;方小红;邢书婷设计研发完成,并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

一种模拟月壤的抗剪强度指标原位测试装置及方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种模拟月壤的抗剪强度指标原位测试装置及方法,涉及月壤检测设备,该装置包括:加载台架;横梁;静力触探探杆;密实筒组,包括沿着竖直方向依次可拆卸连接的多个分层密实筒,各分层密实筒用于盛装不同密实度模拟月壤;以及驱动组件,驱动横梁竖直运动并带动静力触探探杆运动,使静力触探探杆插入其中一个分层密实筒内。本发明的有益效果:通过多个分层密实筒盛装不同密实度模拟月壤,来模拟真实的原位未扰动的月壤,对不同密实度的模拟月壤进行静力触探试验,建立模拟月壤的抗剪强度指标和阻力之间的物理模型,来测量模拟月壤的抗剪强度指标,在月球勘探过程中减少试验流程,提升试验效率和降低试验成本。

本发明授权一种模拟月壤的抗剪强度指标原位测试装置及方法在权利要求书中公布了:1.一种模拟月壤的抗剪强度指标原位测试方法,其特征在于:使用一种模拟月壤的抗剪强度指标原位测试装置进行测试,所述测试装置包括: 加载台架; 横梁,其可竖直滑动的安装于所述加载台架上; 静力触探探杆,其安装于所述横梁上; 密实筒组,其位于所述静力触探探杆下方,所述密实筒组包括两个分层密实筒,两个所述分层密实筒沿着竖直方向依次可拆卸连接; 以及驱动组件,其包括电机、以及与所述电机连接的传动机构,所述传动机构连接所述横梁,以驱动所述横梁竖直运动并带动所述静力触探探杆运动,使所述静力触探探杆插入其中一个所述分层密实筒内; 所述测试方法包括以下步骤: S1、制作不同密实度的模拟月壤样本; S2、通过直剪试验测试不同密实度的模拟月壤的抗剪强度指标; S3、通过回归方法建立模拟月壤密实度和抗剪强度指标之间的物理模型; S4、将每一种密实度的模拟月壤样本放入一组所述密实筒组中; S5、通过所述驱动组件驱动所述横梁向下运动,将所述静力触探探杆贯入模拟月壤中,测量所述静力触探探杆的阻力; S6、通过回归方法建立模拟月壤密实度和所述静力触探探杆的阻力之间的物理模型; S7、通过步骤S3和步骤S6步骤中得到的两个物理模型,建立模拟月壤的抗剪强度指标和所述静力触探探杆的阻力之间的物理模型,来测量模拟月壤的抗剪强度指标; 测试时先对上层分层密实筒和下层分层密实筒内装填模拟月壤,振动到密实度Dr1,然后分层测量两层分层密实筒的密实度,密实度测量完成之后把模拟月壤从两个分层密实筒里的模拟月壤样本均倒出来;然后重新对两个分层密实筒装填同样质量的模拟月壤,振动到密实度为Dr1,再进行静力触探实验,静力触探实验时上层分层密实筒和下层分层密实筒内模拟月壤的密实度由前次分层测量获得; 其中分层密实度的测量方法为: 将上层分层密实筒和下层分层密实筒紧固连接; 将不同密实度下对应的相应质量的模拟月壤倒入两层分层密实筒中,通过振动密实的方法,使模拟月壤上表面恰好与上层分层密实筒上边缘齐平; 将两个分层密实筒连接处的螺丝拆除,用铁片沿上层分层密实筒的下边缘,将上层分层密实筒及筒内的模拟月壤转移至电子秤上,称量铁片、上层分层密实筒和筒内模拟月壤的质量为m1;倒出筒内模拟月壤,称量铁片和上层分层密实筒的质量为m2,密实度的计算公式如下: , 式中:ρdmax为模拟月壤的最大干密度,ρdmin为模拟月壤的最小干密度,V为上层分层密实筒的体积。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国地质大学(武汉),其通讯地址为:430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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