中国计量科学研究院施玉书获国家专利权
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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利一种纳米几何量标准样板及其制备方法和应用获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119779113B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411931136.4,技术领域涉及:G01B5/00;该发明授权一种纳米几何量标准样板及其制备方法和应用是由施玉书;李剑桥设计研发完成,并于2024-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种纳米几何量标准样板及其制备方法和应用在说明书摘要公布了:本发明属于纳米测试技术领域,提供了一种纳米几何量标准样板及其制备方法和应用。本发明的纳米几何量标准样板,包括基板和附着在所述基板上的纳米周期结构二维超分子薄膜,所述纳米周期结构二维超分子薄膜由5,5'‑9H‑芴‑2,7‑二基二邻苯二甲酸和1,2‑双4‑吡啶基乙烷自组装得到。本发明的纳米几何量标准样板具有优异的精密度。本发明还提供了纳米几何量标准样板的制备方法,自组装是自下而上制备纳米周期结构二维超分子薄膜,自下而上能够更精确控制纳米结构的形貌、尺寸和性能,使得纳米周期结构二维超分子薄膜具有高精度和高性能;通过调控自组装的条件,能够实现对纳米几何量结构的长度、线宽以及占空比的调制。
本发明授权一种纳米几何量标准样板及其制备方法和应用在权利要求书中公布了:1.一种纳米几何量标准样板,其特征在于,包括基板和附着在所述基板上的纳米周期结构二维超分子薄膜,所述纳米周期结构二维超分子薄膜由5,5'-9H-芴-2,7-二基二邻苯二甲酸和1,2-双4-吡啶基乙烷自组装得到。
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