华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院(北京)有限公司王光辉获国家专利权
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龙图腾网获悉华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院(北京)有限公司申请的专利基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120107185B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510164199.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法是由王光辉;梁高明;戴伟;汤秀娟;田正如设计研发完成，并于2025-02-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法，属于外观缺陷检测技术领域。本发明采集芯片图像，进行有源区检测得到有源区参数，将芯片图像和有源区参数进行关联，得到芯片外观检测数据集；训练卷积神经网络模型，将待检测的芯片图像输入到训练好的卷积神经网络模型中，得到有源区异常数据集；将有源区异常数据集中的异常类型和异常位置整合进行聚类分析，结合有源区参数，计算每个聚类簇内参数的均值和标准差；将每个聚类簇作为一个节点，依据聚类簇之间的相似性确定边；计算每个节点的度，识别图中的子图结构；将不同时间点的子图结构进行对比，判断有源区异常数据集中的异常数据是否具备可逆性。
本发明授权基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 采集芯片图像，进行有源区检测得到有源区参数，将芯片图像和有源区参数进行关联，得到芯片外观检测数据集； 基于芯片外观检测数据集，训练卷积神经网络模型，将待检测的芯片图像输入到训练好的卷积神经网络模型中，提取图像特征向量，进行分类预测，得到有源区异常数据集； 将有源区异常数据集中的异常类型和异常位置整合进行聚类分析，结合有源区参数，计算每个聚类簇内参数的均值和标准差； 将每个聚类簇作为一个节点，依据聚类簇之间的相似性确定边；计算每个节点的度，识别图中的子图结构； 将不同时间点的子图结构进行对比，结合图中的节点属性和连接关系，判断有源区异常数据集中的异常数据是否具备可逆性。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院(北京)有限公司，其通讯地址为：225500 江苏省泰州市姜堰区罗塘街道现代科技产业园(群东路88号)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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