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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于法布里珀罗标准具阵列的快照像面干涉成像光谱仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119826978B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510216878.7，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权基于法布里珀罗标准具阵列的快照像面干涉成像光谱仪是由吕金光;梁静秋;郑凯丰;赵百轩;陈宇鹏;赵莹泽;王惟彪;秦余欣设计研发完成，并于2025-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于法布里珀罗标准具阵列的快照像面干涉成像光谱仪在说明书摘要公布了：本发明涉及光谱成像领域，尤其涉及一种基于法布里珀罗标准具阵列的快照像面干涉成像光谱仪，包括望远系统、微透镜阵列、法布里珀罗标准具阵列和探测系统，望远系统用于收集目标光场，并对目标光场进行视场限制和准直；微透镜阵列用于对准直后的目标光场进行阵列成像；法布里珀罗标准具阵列由基底和多个介质腔厚度呈二维线性递增的法布里珀罗标准具单元构成，任意相邻两个法布里珀罗标准具单元之间的阶梯高度差均相同；探测系统用于对法布里珀罗标准具阵列调制的干涉光场进行成像，获得干涉图像阵列。本发明具有体积小、重量轻、结构紧凑、静态、稳定、可靠等优点。

本发明授权基于法布里珀罗标准具阵列的快照像面干涉成像光谱仪在权利要求书中公布了：1.一种基于法布里珀罗标准具阵列的快照像面干涉成像光谱仪，其特征在于，包括望远系统、微透镜阵列、法布里珀罗标准具阵列和探测系统；其中， 望远系统用于收集目标光场，并对目标光场进行视场限制和准直； 微透镜阵列位于望远系统的准直方向上，微透镜阵列采用像方远心光路结构，由M×N个微透镜单元构成，微透镜阵列用于对准直后的目标光场进行阵列成像； 法布里珀罗标准具阵列位于微透镜阵列的像方焦面上，法布里珀罗标准具阵列由基底和M×N个介质腔厚度呈二维线性递增的法布里珀罗标准具单元构成，每个介质腔的厚度对应一个光程差，一个方向上任意相邻两个法布里珀罗标准具单元之间的阶梯高度差为d，另一个方向上任意相邻两个法布里珀罗标准具单元之间的阶梯高度差为Md，每个法布里珀罗标准具单元对应一个微透镜单元； 探测系统位于法布里珀罗标准具阵列的出射方向上，用于对法布里珀罗标准具阵列调制的干涉光场进行成像，获得干涉图像阵列； 介质腔的两个反射界面的反射率为30%~40%； 基底采用低折射率透明基板，在低折射率透明基板的下表面蒸镀增透膜，法布里珀罗标准具单元采用高折射率透明介质层；或者，基底采用高折射率基板，在高折射率基板的下表面蒸镀增透膜，法布里珀罗标准具单元采用低折射率透明介质层，在低折射率透明介质层的上表面蒸镀反射膜；或者，基底采用低折射率透明基板，在低折射率透明基板的下表面蒸镀增透膜，在低折射率透明基板的上表面蒸镀反射膜，法布里珀罗标准具单元采用低折射率透明介质层，在低折射率透明介质层的上表面蒸镀反射膜； 低折射率透明基板为石英、氟化钙、氟化镁或蓝宝石介质材料；高折射率透明介质层采用硅介质材料或锗介质材料；高折射率基板为硅介质材料或锗介质材料，低折射率透明介质层为二氧化硅、三氧化二铝、氟化钙、氟化镁、氟化钇、氟化钍、氟化铈中的任意一种，反射膜为硅膜或锗膜； 对于入射的宽带光谱，阶梯高度差d满足如下关系： ； 其中，λmin为宽带光谱的最小波长，θmax为最大孔径角光线在介质腔中对应的入射角，J为光谱谐波级次，n0为法布里珀罗标准具单元的介质折射率； 对于入射的窄带光谱，阶梯高度差d满足如下关系： ； 其中，λs为窄带光谱的最短波长，λL为窄带光谱的最长波长，k为光谱折叠级次，取小于等于的任意整数。

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