买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉北京尊冠科技有限公司申请的专利一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120370142B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510837890.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统是由姜华;符瑜慧;黄贵玲;葛会亮;邢爱晶设计研发完成，并于2025-06-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统，涉及集成电路芯片测试技术领域，包括芯片测试平台，所述芯片测试平台通信连接有如下模块，其中：数据获取模块，用于从现有的集成电路芯片测试设备中收集历史测试数据，并对其进行预处理，整合得到芯片测试数据集；模型训练优化模块，用于分析芯片测试数据集，学习芯片性能与测试向量之间的关系，并训练测试向量AI优化模型。本发明通过分析历史测试数据，自动生成优化的测试向量，避免传统测试中冗余的逐项测试流程，通过测试向量AI优化模型精准定位关键测试节点，减少不必要的测试步骤，从而显著缩短测试时间，提高测试效率。

本发明授权一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统在权利要求书中公布了：1.一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统，包括芯片测试平台，其特征在于：所述芯片测试平台通信连接有如下模块，其中： 数据获取模块，用于从现有的集成电路芯片测试设备中收集历史测试数据，并对其进行预处理，整合得到芯片测试数据集； 模型训练优化模块，用于分析芯片测试数据集，学习芯片性能与测试向量之间的关系，并训练测试向量AI优化模型； 测试向量生成模块，用于根据训练的测试向量AI优化模型，结合当前芯片的测试需求，自动生成初始的测试向量； 测试向量评估模块，用于对生成的测试向量进行评估，分析其在芯片测试中的效果，并对初始测试向量进行优化； 测试执行反馈模块，用于应用优化后的测试向量，对集成电路芯片进行测试，并根据测试执行结果，进一步优化测试向量AI优化模型和测试向量； 所述模型训练优化模块包括特征分析单元和模型训练优化单元； 所述模型训练优化单元，用于结合测试特征序列表和历史测试数据，以支持向量机模型为基础架构，学习芯片性能与测试向量之间的关系，训练测试向量AI优化模型； 所述特征分析单元具体包括： 对芯片测试数据集进行结构化解析，识别数据中包含的潜在特征域，通过解析数据字段的语义标签、数据类型及关联关系，划分出与测试向量优化直接相关的核心特征类别，包括电气性能参数、功能测试结果、工艺参数及测试环境变量，结合集成电路芯片测试的领域知识库，建立特征与测试向量优化目标的映射关系，明确各特征在测试效率、覆盖率及成本优化中的潜在作用，形成待提取特征清单； 依据待提取特征清单，从历史测试数据中提取具体的测试特征类别，包括测试向量覆盖率、故障检测率、测试时间、测试向量长度、故障覆盖率提升效率和测试冗余度，并进行多维度关联性分析，量化测试特征与测试向量有效性之间的关联强度，生成包含特征名称和定义的结构化的测试特征序列表。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京尊冠科技有限公司，其通讯地址为：100083 北京市海淀区北四环中路211号主楼1层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。