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龙图腾网获悉中科宝溢视觉科技(江苏)有限公司申请的专利一种双面光学成像膜的检测装置及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120369676B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510863909.8，技术领域涉及：G01N21/55；该发明授权一种双面光学成像膜的检测装置及检测方法是由张保平;刘太龙;纪诺设计研发完成，并于2025-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种双面光学成像膜的检测装置及检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学膜检测技术领域，提供了一种双面光学成像膜的检测装置及检测方法，包括获取双面光学成像膜的第一光学反射数据和第二光学反射数据并进行比对，得到全局反射差异数据并进行分析，得到光学反射性能数据和透射性能数据，将光学反射性能数据和透射性能数据输入预设的分析模型，输出光学性能评估报告。通过获取双面光学成像膜的第一光学反射数据和第二光学反射数据，并将其进行比对和统计分析，得到准确的全局反射差异数据，再通过预设的分析模型，输出光学性能评估报告，提供了更为全面和性能评估，适用于多种高精度光学设备的质量控制和性能分析，改善在高精度应用场景下，存在难以兼顾光学均匀性和反射特性的全面评估的问题。

本发明授权一种双面光学成像膜的检测装置及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种双面光学成像膜的检测方法，其特征在于，包括： 获取双面光学成像膜的第一表面的第一光学反射数据和第二表面的第二光学反射数据，将所述第一光学反射数据与所述第二光学反射数据进行比对，得到全局反射差异数据； 通过K-均值聚类算法对所述全局反射差异数据进行聚类处理，生成光学均匀性聚类图，基于所述光学均匀性聚类图，利用标准差法计算膜表面光学均匀性的整体偏差值，并利用局部加权回归法计算局部偏差值；利用快速傅里叶变换对所述整体偏差值和所述局部偏差值进行频域分解，生成表面光学均匀性数据；应用功率谱密度分析对所述表面光学均匀性数据进行频域分析，得到均匀性频谱数据，根据主成分分析对所述均匀性频谱数据和所述整体偏差值进行降维分析，基于分析结果生成光学均匀性特征指标和光学偏差分布参数；基于空间自相关对所述光学均匀性特征指标进行空间统计分析，生成全局均匀性指数，利用线性回归模型对所述全局均匀性指数和所述光学偏差分布参数进行回归分析，得到光学均匀性评估值； 根据所述光学均匀性评估值对双面光学成像膜的第一表面和第二表面的光学均匀性进行综合分析，得到光学均匀性分析结果； 通过DBSCAN算法对所述光学均匀性分析结果进行聚类处理，识别膜表面光学特性变化区域，生成光学均匀性区域划分图，基于所述光学均匀性区域划分图提取每个特性变化区域的光学均匀性均值和最大偏差值，通过所述光学均匀性均值和所述最大偏差值生成光学均匀性指标；利用线性判别分析对所述光学均匀性指标进行分类分析，得到光学均匀性特征数据集，通过支持向量机回归模型对所述光学均匀性特征数据集进行回归分析，得到光学反射特性相关参数和光学偏差参数；根据传输矩阵法对所述光学反射特性相关参数进行光学反射性能拟合计算，得到双面光学成像膜的光学反射性能数据；利用菲涅尔方程对所述光学偏差参数进行透射性能计算，得到双面光学成像膜的透射性能数据； 将所述光学反射性能数据和所述透射性能数据输入预设的分析模型，输出光学性能综合评分，根据所述光学性能综合评分生成光学性能评估报告。

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