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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司申请的专利显示面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115689970B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110849282.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权显示面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质是由周全国;卓磊;李凡;张青;唐浩;蒋国;周丽佳;降海钧;李东阳;徐丽蓉设计研发完成，并于2021-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本显示面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种显示面板的缺陷检测方法、缺陷检测装置、电子设备以及存储介质。缺陷检测方法包括：获取显示面板贴合U型膜的原始图像，对原始图像进行预处理得到预处理图像，通过缺陷检测模型对预处理图像进行多尺度特征提取得到一组多尺度的第一特征图，缺陷检测模型由基于特征图金字塔网络的深度学习多层卷积网络构建并训练得到，根据第一特征图对面板缺陷进行分类。从而，能够及时快速的准确的对出显示面板经U‑lami工艺后的不良现象进行准确监控，提高了工厂不良监控及时性，如此，便于后续相关人员根据不良缺陷进行分析以进行进一步地改进，从而提高整体产品品质，提升企业竞争力。

本发明授权显示面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种显示面板的缺陷检测方法，用于U型膜贴合的面板缺陷检测，其特征在于，所述缺陷检测方法包括： 获取所述显示面板贴合U型膜的原始图像； 对所述原始图像进行预处理得到预处理图像； 通过缺陷检测模型对所述预处理图像进行多尺度特征提取得到一组多尺度的第一特征图，所述缺陷检测模型由基于特征图金字塔网络的深度学习多层卷积网络构建并训练得到； 根据所述第一特征图对所述面板缺陷进行分类； 所述预处理图像包括显示区预处理图像和布线区预处理图像； 所述通过缺陷检测模型对所述预处理图像进行多尺度特征提取得到一组多尺度的第一特征图包括： 通过残差卷积网络对所述预处理图像进行特征提取得到具有不同分辨率的一组第二特征图； 根据所述一组第二特征图构建第一特征图金字塔； 根据所述第一特征图金字塔自上而下进行上采样生成具有不同分辨率的所述一组多尺度的第一特征图； 所述一组多尺度的第一特征图形成与所述第一特征图金字塔对应的第二特征图金字塔，所述根据所述第一特征图金字塔自上而下进行上采样生成具有不同分辨率的所述一组多尺度的第一特征图包括： 根据所述第一特征图金字塔最上层的第二特征图确定所述第二特征图金字塔最上层的第一特征图； 将所述第二特征图金字塔上一层的第一特征图上采样的结果和所述第一特征图金字塔当前层的所述第二特征图融合得到当前层的所述第一特征图； 所述将所述第二特征图金字塔上一层的第一特征图上采样的结果和所述第一特征图金字塔当前层的所述第二特征图融合得到当前层的所述第一特征图包括： 对所述第一特征图金字塔当前层的所述第二特征图进行卷积处理以减少所述第二特征图的卷积核数量； 对所述第二特征图金字塔上一层的所述第一特征图进行上采样处理得到当前上采样特征图，使得所述当前上采样特征图和当前层的所述第二特征图分辨率相同； 将卷积处理后的所述第二特征图和所述当前上采样特征图进行像素叠加得到当前层的所述第一特征图。

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